[发明专利]一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法

说明书

本发明提供了一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法，其能解决现有型面测量样板的设计方法不适用于大扭转叶片的型面测量样板的设计的问题。设计方法为，将距离大扭转叶片的被测截面上方0.5mm高度处的截面轮廓定义为上截面轮廓，将距离大扭转叶片的被测截面下方0.5mm高度处的截面轮廓定义为下截面轮廓，上截面轮廓会与下截面轮廓相交于A点，将位于A点外侧的由一半上截面轮廓和一半下截面轮廓组成的轮廓定义为型面测量样板的理论轮廓，再将理论轮廓按照设计包络量向外进行偏置即得到型面测量样板的实际轮廓，按照实际轮廓加工制造型面测量样板。

技术领域

本发明涉及叶片型面检测领域，具体为一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法。

背景技术

目前，常用的叶片型面检测是使用型面测量样板在型面框架测具上进行检测。通常情况下，型面测量样板的设计采用叶片的被测截面的理论型线向外偏置一定的数值作为型面测量样板的设计包络值，如图1所示，1为叶片截面的理论型线，2为偏置包络值后的样板轮廓。型面测量样板8的样板测量面宽度w通常设计为1mm，样板测量面两侧加工有棱边9，如图2所示。测量时采用塞尺测量样板测量面与叶片型面间的间隙值，即样板测量面的棱边与叶片型面间的最小通过间隙，也就是图2中的实际测量间隙d。此种设计方法对于大多数类型的型面测量样板设计没有问题，型面测量样板设计后产生的理论设计误差小于或等于0.05mm，能够满足实际测量要求，理论设计误差等于图2中理论包络值D-实际测量间隙d。

但是，对于大扭转叶片，其叶片叶型扭曲量大，如果还按照上述方式设计型面测量样板，其测量产生的理论设计误差将大于0.05mm，不满足实际测量要求。

发明内容

针对现有型面测量样板的设计方法不适用于大扭转叶片的型面测量样板的设计的技术问题，本发明提供了一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法，其能确保型面测量样板的理论设计误差小，满足实际测量要求。

其技术方案是这样的：一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法，其特征在于：将距离大扭转叶片的被测截面上方0.5mm高度处的截面轮廓定义为上截面轮廓，将距离大扭转叶片的被测截面下方0.5mm高度处的截面轮廓定义为下截面轮廓，所述上截面轮廓会与所述下截面轮廓相交于A点，将位于A点外侧的由一半所述上截面轮廓和一半所述下截面轮廓组成的轮廓定义为型面测量样板的理论轮廓，再将所述理论轮廓按照设计包络量向外进行偏置即得到型面测量样板的实际轮廓，按照所述实际轮廓加工制造型面测量样板。

其进一步特征在于：

所述设计包络量为0.5mm~0.8mm。

所述型面测量样板的样板测量面的宽度为1mm，所述样板测量面的两侧加工有棱边。

本发明的有益效果是：

本发明的型面测量样板的设计方法，其采用叶片被测截面上下各0.5mm高度处的两个截面轮廓所构成的外侧轮廓定义型面测量样板的理论轮廓，再按此理论轮廓进行偏置得到型面测量样板的实际轮廓，与传统型面测量样板的设计方法相比，在测量大扭转叶片的型面时，能够有效降低测量产生的理论设计误差，理论设计误差小于或等于0.05mm，满足实际测量要求。

附图说明

图1为通常型面测量样板采用的轮廓设计方法示意图；

图2为大扭转叶片采用常规方法设计的型面测量样板测量时产生的理论设计误差的示意图；

图3为本发明的型面测量样板的轮廓设计方法示意图。

具体实施方式