[发明专利]彩色滤光片、图像传感器和摄像装置

权利要求书

1.一种滤光模组，其特征在于，包括：彩色滤光片与控制组件；所述彩色滤光片包括第一基底、超表面结构、介质层与第二基底；

所述超表面结构位于所述第一基底上，所述超表面结构包括周期性排布的多个微结构，所述介质层位于所述超表面结构远离所述第一基底的一侧，且覆盖所述超表面结构；所述介质层的折射率与所述超表面结构的折射率不同；所述第二基底位于所述介质层远离所述第一基底的一侧；

所述控制组件被配置为调整所述介质层的折射率，以调整通过所述彩色滤光片的可见光的波长。

2.根据权利要求1所述的滤光模组，其特征在于，所述介质层的材料为液晶；所述控制组件包括第一透明电极、第二透明电极与控制器；所述第一透明电极位于所述第一基底远离所述第二基底的一侧，所述第二透明电极位于所述第二基底与所述介质层之间；

所述控制器被配置为控制所述第一透明电极与所述第二透明电极之间的电压，以控制所述液晶的折射率。

3.根据权利要求2所述的滤光模组，其特征在于，所述控制组件还包括液晶取向层，所述液晶取向层位于所述介质层与所述第二透明电极之间。

4.根据权利要求1所述的滤光模组，其特征在于，所述介质层的材料为热光材料；所述控制组件包括加热片与控制器，所述加热片位于所述第一基底上，且环绕所述超表面结构；所述加热片与所述控制器连接；

所述控制器被配置为控制所述加热片对所述介质层加热，以控制所述热光材料的折射率。

5.根据权利要求4所述的滤光模组，其特征在于，所述热光材料为SU-8胶、TZ001或PMMA。

6.根据权利要求1所述的滤光模组，其特征在于，所述介质层的材料为磁光材料；所述控制组件包括控制器与光源，所述光源与所述控制器连接；

所述控制器被配置为控制所述光源发射的光的频率、偏振态与光强中的任意一种或任何组合，以控制所述磁光材料的折射率。

7.根据权利要求6所述的滤光模组，其特征在于，所述磁光材料为铁电材料。

8.根据权利要求1所述的滤光模组，其特征在于，所述彩色滤光片还包括第一反射镜与第二反射镜，所述第一反射镜位于所述第一基底远离所述第二基底的一侧，所述第二反射镜位于所述第二基底远离所述第一基底的一侧，所述第一反射镜与第二反射镜形成光学谐振腔。

9.根据权利要求8所述的滤光模组，其特征在于，所述第一反射镜为分布式布拉格反射镜，所述第二反射镜为分布式布拉格反射镜。

10.根据权利要求9所述的滤光模组，其特征在于，所述第一反射镜包括在垂直于所述第一基底的方向上交替排布的第一膜层与第二膜层，所述第二反射镜包括在垂直于所述第一基底的方向上交替排布的所述第一膜层与所述第二膜层；

所述第一膜层的厚度与所述第一膜层的折射率的乘积为所述波长的四分之一；所述第二膜层的厚度与所述第二膜层的折射率的乘积为所述波长的四分之一；

所述第一膜层的材料为Si₃N₄，所述第二膜层的材料为SiO₂；或，所述第一膜层的材料为a-Si，所述第二膜层的材料为SiO₂；或，所述第一膜层的材料为p-Si，所述第二膜层的材料为SiO₂。

11.根据权利要求1所述的滤光模组，其特征在于，所述微结构的材料为a-Si、p-Si、Si₃N₄、SiO2、TiO₂或Ge；

所述微结构为柱状，所述微结构的横截面为长方形、正方形、圆形或椭圆形；或

所述微结构为圆球或椭圆球体。