[发明专利]状态检测电路及控制检测方法

说明书

本发明公开了一种状态检测电路及控制检测方法，状态检测电路包括：IO接口电路，计数电路，分时采样电路；所述计数电路主要用于产生从00到11的计数，并在00到11的四个状态过程中对IO接口电路进行采样控制；所述IO接口电路主要用于在不同的计数状态对电阻的连接信息进行采样，然后转换成逻辑信号输出到所述采样电路中；所述采样电路包括主要用于针对电阻的不同连接的状态，分别进行锁存，然后经过编码，产生内部状态控制信号。本发明的技术方案通过简单的时序控制和电压检测相结合的方式，实现了多达五种不同外接方式的状态检测，省去了比较器的应用，缩小了芯片的面积。

技术领域

本发明属于集成电路设计技术领域，涉及一种状态检测电路及控制检测方法。

背景技术

在电子产品中，随着集成化的高度发展，芯片设计希望在同一管脚上通过一些简单的方式来实现不同的控制方式，例如在管脚上接不同阻值的电阻，直接接地，浮空，直接接电源等。传统的检测方式中检测电路面积较大，越来越不适合于集成电路设计的发展需求。

传统控制模式如图1所示，通过外接不同的电阻改变内部电阻节点的分压值，芯片对该节点电压值进行判断，不同的电压值对应不同的工作模式。

内部电路实现如图2所示，通过IO口外部直接接地，接电阻到地，悬空，接电阻到电源，直接接电源等五种不同的外部连接方式，可实现内部五种不同模式的选择。这种检测方式优点是设计结构简单，不需要复杂的时序设计；缺点是IO口需要较多的比较器对不同接法的电压进行比较，耗费了大量的面积资源：五种状态就需要五个比较器，而比较器面积相对较大。

发明内容

本发明的目的在于提供一种状态检测电路及控制检测方法，至少可以实现多种不同外接方式的状态检测，减少芯片的面积。

根据本发明的第一方面，提供一种状态检测电路，包括：

IO接口电路，计数电路，分时采样电路；

所述计数电路主要用于产生从00到11的计数，并在00到11的四个状态过程中对IO接口电路进行采样控制；

所述IO接口电路主要用于在不同的计数状态对电阻的连接信息进行采样，然后转换成逻辑信号输出到所述采样电路中；

所述采样电路包括主要用于针对电阻的不同连接的状态，分别进行锁存，然后经过编码，产生内部状态控制信号。

可选的，所述计数电路包括第一触发器、第二触发器、第一与非门和第二与非门，使能信号PD分别连接第一触发器和第二触发器的reset端，第一与非门的第一输入端连接CLK信号，第二输入端与第二与非门的输出端相连接，第一与非门的输出端输出CKIN并连接第一触发器的clk端，第一触发器的D端与自身Q非端连接，第一触发器的Q端输出控制信号Q0连接第二与非门的第一输入端，第一触发器的Q非端还连接第二触发器的clk端，第二触发器的D端与自身Q非端连接，第二触发器的Q端输出控制信号Q1连接第二与非门的第二输入端。

可选的，所述IO接口电路包括一个与门，一个或门，电阻R0，电阻R1，PMOS管MP，NMOS管MN，下拉电路，施密特触发器SmitH，施密特触发器SmitL，所述与门和或门分别用于产生控制信号SWN和SWP，SWN接至MN的栅极，SWP接至MP的栅极，MP源极接电源电压，漏极接R1的一端，R1的另一端连接至R0的一端，R0的另一端连接至MN的源极，MN漏极接地，IO口连接至R1的另一端，下拉电路输出端连接至R1的另一端，输入端连接至第一与非门的第一输入端，接收第二与非门的输出端输出的检测信号MROK，施密特触发器SmitH和施密特触发器SmitL的输入端连接至R1的另一端，分别输出信号VH和VL。