[发明专利]状态检测电路及控制检测方法有效
申请号: | 202010950331.7 | 申请日: | 2020-09-11 |
公开(公告)号: | CN111929522B | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 秦鹏举;张振浩 | 申请(专利权)人: | 上海海栎创科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R19/00 |
代理公司: | 上海启核知识产权代理有限公司 31339 | 代理人: | 王仙子 |
地址: | 200131 上海市浦东新区中国(上海)自由*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 状态 检测 电路 控制 方法 | ||
1.一种状态检测电路,其特征在于,包括:
IO接口电路,计数电路,分时采样电路;
所述计数电路主要用于产生从00到11的计数,并在00到11的四个状态过程中对IO接口电路进行采样控制;所述计数电路包括第一触发器、第二触发器,使能信号PD分别连接第一触发器和第二触发器的reset端,第一触发器的Q端输出控制信号Q0,第二触发器的Q端输出控制信号Q1;
所述IO接口电路主要用于在不同的计数状态对电阻的连接信息进行采样,然后转换成逻辑信号输出到所述采样电路中;所述IO接口电路包括一个与门,一个或门,电阻R0,电阻R1,PMOS管MP,NMOS管MN,下拉电路,所述与门和或门分别用于产生控制信号SWN和SWP,SWN接至MN的栅极,SWP接至MP的栅极,MP源极接电源电压,漏极接R1的一端,R1的另一端连接至R0的一端,R0的另一端连接至MN的源极,MN漏极接地,IO口连接至R1的另一端,下拉电路输出端连接至R1的另一端,输入端连接至第一与非门的第一输入端,接收第二与非门的输出端输出的检测信号MROK;
所述采样电路主要用于针对电阻的不同连接的状态,分别进行锁存,电阻R1与外部连接之间的信息,锁存到PH0_DATA中;电阻R0与外部连接之间的信息,锁存到PH1_DATA中,然后经过编码,产生内部状态控制信号。
2.根据权利要求1所述的状态检测电路,其特征在于:所述计数电路还包括第一与非门和第二与非门,第一与非门的第一输入端连接CLK信号,第二输入端与第二与非门的输出端相连接,第一与非门的输出端输出CKIN并连接第一触发器的clk端,第一触发器的D端与自身Q非端连接,第一触发器的Q端输出控制信号Q0连接第二与非门的第一输入端,第一触发器的Q非端还连接第二触发器的clk端,第二触发器的D端与自身Q非端连接,第二触发器的Q端输出控制信号Q1连接第二与非门的第二输入端。
3.根据权利要求2所述的状态检测电路,其特征在于:所述IO接口电路还包括施密特触发器SmitH,施密特触发器SmitL,施密特触发器SmitH和施密特触发器SmitL的输入端连接至R1的另一端,分别输出信号VH和VL。
4.根据权利要求2所述的状态检测电路,其特征在于:所述采样电路包括第一或非门,第二或非门,第三触发器、第四触发器、第五触发器和第六触发器,所述第一或非门的第一输入端接SWP,第二输入端接CKIN,输出端连接第三触发器和第四触发器的clk端,第二或非门的第一输入端接SWN_N,第二输入端接CKIN,输出端连接第五触发器和第六触发器的clk端,第三触发器、第四触发器、第五触发器和第六触发器的reset端接至使能信号PD,第三触发器和第五触发器的D端连接信号VH,第四触发器和第六触发器的D端连接信号VL,第三触发器、第四触发器、第五触发器和第六触发器的Q端和Q非端连接至逻辑转换电路进行编码,产生内部状态控制信号,输出到后续其他电路中,控制后续其他电路的工作状态。
5.一种控制检测方法,采用如权利要求1-4中任意一项所述的状态检测电路,其特征在于,包括:
当使能信号PD使能后,计数器开始计数,控制信号Q1Q0从00开始计数,当Q1Q0=01时,MP打开,MN关闭,此时采样电阻R1与外部连接之间的信息,锁存到PH0_DATA中;当Q1Q0=10时,MP关闭,MN打开,此时采样电阻R0与外部连接之间的信息,锁存到PH1_DATA中,当Q1Q0=11时,MROK变低,关闭计数器,将IO口下拉到地。
6.根据权利要求5所述的控制检测方法,其特征在于:采样电阻R1与外部连接之间的信息包括检测IO通过电阻R1接地的状态;采样电阻R0与外部连接之间的信息包括检测IO通过电阻R0接电源的状态。
7.根据权利要求5所述的控制检测方法,其特征在于:
若Q1Q0=01时,VH=0,VL=0,PH0_DATA采样保存信号为PH0H=0,PH0L=0;若Q1Q0=10时,VH=0,VL=0,PH1_DATA采样保存信号为PH1H=0,PH1L=0;则IO口直接接地;
若Q1Q0=01时,MP打开,VH=0,VL=1,PH0_DATA采样保存信号为PH0H=0,PH0L=1;若Q1Q0=10时,MN打开,IO下拉到地,VH=0,VL=0,PH1_DATA采样保存信号为PH1H=0,PH1L=0;则IO口接外部电阻后接地;
若Q1Q0=01时,MP打开,IO上拉到电源,VH=1,VL=1,PH0_DATA采样保存信号为PH0H=1,PH0L=1;若Q1Q0=10时,MN打开,IO下拉到地,VH=0,VL=0,PH1_DATA采样保存信号为PH1H=0,PH1L=0;则IO口悬空;
若Q1Q0=01时,MP打开,IO上拉到电源,VH=1,VL=1,PH0_DATA采样保存信号为PH0H=1,PH0L=1;若Q1Q0=10时,MN打开,VH=0,VL=1,PH1_DATA采样保存信号为PH1H=0,PH1L=1;则IO口接外部电阻后接电源;
若Q1Q0=01时,VH=1,VL=1,PH0_DATA采样保存信号为PH0H=1,PH0L=1;若Q1Q0=10时,VH=1,VL=1,PH1_DATA采样保存信号为PH1H=1,PH1L=1;则IO口直接接电源。
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