[发明专利]直流电场作用下的岩石孔隙结构测试方法及系统

权利要求书

1.一种直流电场作用下的岩石孔隙结构测试方法，其特征在于，应用于孔隙结构测试系统，所述孔隙结构测试系统包括孔隙结构测试装置、标定装置以及电化学储层流体特征模拟装置，所述电化学储层流体特征模拟装置包括用于模拟储层流体特征的导电流体；所述方法包括：

利用所述标定装置对目标岩石样品进行测试区域标定处理，得到包含至少一个标定区域的目标岩石样品；

利用所述孔隙结构测试装置对所述目标岩石样品的标定区域进行测试，得到各标定区域所对应的第一孔隙结构测试结果；

将所述包含至少一个标定区域的目标岩石样品置于所述电化学储层流体特征模拟装置中的所述导电流体内，并对所述导电流体施加直流电场，得到直流电场作用后的目标岩石样品；

利用所述孔隙结构测试装置对所述直流电场作用后的目标岩石样品的标定区域进行测试，得到各标定区域所对应的第二孔隙结构测试结果；

对比所述目标岩石样品中相同的标定区域所对应的第一孔隙结构测试结果以及第二孔隙结构测试结果，得到所述目标岩石样品被施加直流电场前后的储层孔隙结构变化特征测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述孔隙结构测试装置包括原子力显微镜或冷场扫描电镜。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对目标储层的原始岩石样品进行切割以及打磨处理，得到满足所述孔隙结构测试装置测试要求的岩石薄片，作为目标岩石样品。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对目标岩石样品进行测试区域标定处理，包括：

基于纳米压痕打点方法，对目标岩石样品的测试区域的边界线进行打点处理。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电化学储层流体特征模拟装置包括开设有至少一个开口的中空容器以及承装在所述中空容器内的导电流体；所述导电流体包括不同浓度和不同类型的流体，以模拟所述目标岩石样品所在的目标储层的不同流体特征。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电化学储层流体特征模拟装置还包括直流电源仪、阳极、阴极；所述阳极以及阴极的一端通过所述开口置于所述中空容器的导电流体中；所述阳极以及阴极的另一端与所述直流电源仪电连接；

相应的，将所述包含至少一个标定区域的目标岩石样品通过所述开口放置于所述中空容器的导电流体中；

利用所述直流电源仪向所述阳极及阴极施加直流电场，以对所述导电流体施加直流电场，得到直流电场作用后的目标岩石样品。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述中空容器的材料为绝缘材料。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述阳极、阴极置于所述导电液体中的一端采用惰性金属，以避免阳极与阴极在直流电场的作用下产生化学沉淀。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，将所述包含至少一个标定区域的目标岩石样品通过所述开口放置于所述导电流体中距离所述阳极以及阴极的不同位置处。

10.一种直流电场作用下的岩石孔隙结构测试系统，其特征在于，所述系统包括孔隙结构测试装置、标定装置以及电化学储层流体特征模拟装置，所述电化学储层流体特征模拟装置包括用于模拟储层流体特征的导电流体；其中，

所述标定装置用于对目标岩石样品进行测试区域标定处理，得到包含至少一个标定区域的目标岩石样品；

所述电化学储层流体特征模拟装置用于承装所述包含至少一个标定区域的目标岩石样品，且所述目标岩石样品被置于所述导电液体中，以在对所述模拟储层流体特征的流体施加直流电场后，得到直流电场作用后的目标岩石样品；

所述孔隙结构测试装置用于对所述目标岩石样品的标定区域进行测试，得到各标定区域所对应的第一孔隙结构测试结果；以及，对所述直流电场作用后的目标岩石样品的标定区域进行测试，得到各标定区域所对应的第二孔隙结构测试结果；以基于所述目标岩石样品中相同的标定区域所对应的第一孔隙结构测试结果以及第二孔隙结构测试结果，得到所述目标岩石样品被施加直流电场前后的储层孔隙结构变化特征测试结果。