[发明专利]电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本发明实施例通过提供一种电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质，所述电路的测试方法包括：电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。本发明提高了电路测试的效率。

技术领域

本发明涉及电路测试领域，尤其涉及一种电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

在电路系统中的测试过程中，器件在工作时的电压会有一个变动范围，若不考虑上述变动范围，而直接将电路进行部署，可能会由于线路的阻值误差，导致分到器件的电压满足不了器件的正常工作，且后续再针对该问题进行测试时，需要到实际电路去获取测试数据，导致电路测试的效率低。

发明内容

本发明实施例通过提供一种电路的测试方法、系统及计算机可读存储介质，通过模拟现实电路，输入相应数据进行电路的测试，可在电路进行部署前确定是否会因为器件在工作时的电压存在浮动范围而导致器件不能正常工作的问题，不需要到实际电路去获取测试数据，提高了电路测试的效率。

本发明实施例的第一方面提供一种电路的测试方法，所述电路的测试方法包括：

电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；

根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；

根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；

根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。

在一实施例中，所述获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间的步骤包括：

获取所述第一电子器件的额定电压；

确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。

在一实施例中，所述确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间的步骤包括：

获取所述第一电子器件的器件类型；

根据所述器件类型和所述额定电压，确定与所述器件类型和所述额定电压关联的预设浮动范围；

将所述预设浮动范围作为所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。

在一实施例中，在所述第二电阻值大于预设电阻值时，所述第二电子器件为设备；在所述第二电阻值小于或等于预设电阻值时，所述第二电子器件为电阻器件。

在一实施例中，所述根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署的步骤包括：

根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定电阻区间；

在所述电阻区间中确定所述第二电子器件的第二电阻值。

在一实施例中，所述第一电子器件包括至少一个子器件。

在一实施例中，所述获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间的步骤包括：

若所述电路上已接入的子器件为多个时，获取所述多个第二电子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；