[发明专利]电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种电路的测试方法，其特征在于，所述电路的测试方法包括：

电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；

根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；

根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；

根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。

2.如权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间的步骤包括：

获取所述第一电子器件的额定电压；

确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。

3.如权利要求2所述的电路的测试方法，其特征在于，所述确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间的步骤包括：

获取所述第一电子器件的器件类型；

据所述器件类型和所述额定电压，确定与所述器件类型和所述额定电压关联的预设浮动范围；

将所述预设浮动范围作为所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。

4.如权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，在所述第二电阻值大于预设电阻值时，所述第二电子器件为设备；在所述第二电阻值小于或等于预设电阻值时，所述第二电子器件为电阻器件。

5.如权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署的步骤包括：

根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定电阻区间；

在所述电阻区间中确定所述第二电子器件的第二电阻值。

6.如权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述第一电子器件包括至少一个子器件。

7.如权利要求6所述的电路的测试方法，其特征在于，所述获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间的步骤包括：

若所述第一电子器件包括多个子器件时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；

根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件浮动的第一电压区间。

8.如权利要求6所述的电路的测试方法，其特征在于，所述获取电路上已接入的所述第一电子器件的第一电阻值的步骤包括：

若所述电路上已接入的第一电子器件包括多个子器件时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；

根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件的第一电阻值。

9.一种电路的测试装置，其特征在于，所述电路的测试装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8中任一项所述的电路的测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的电路的测试方法的步骤。