[发明专利]一种可调释放高度的定向跌落试验设备

说明书

本申请涉及电子测试设备的领域，尤其是涉及一种可调释放高度的定向跌落试验设备，包括保护箱和控制器，保护箱内设置有沿竖直方向滑动且用于夹紧待测物的定位机构，保护箱内且位于定位机构的一侧设置有光电传感器，定位机构上设置有与光电传感器适配的挡片，定位机构、光电传感器均与控制器电连接。本申请通过改变光电传感器高度从而达到实时改变跌落实验设备释放高度的效果。

技术领域

本申请涉及电子测试设备的领域，尤其是涉及一种可调释放高度的定向跌落试验设备。

背景技术

常用的电子产品在制备完成后，均需要经过跌落试验用以测试产品的耐摔程度以及产品内部元件损坏的程度。

目前的跌落试验设备是将光电传感器固定在单一高度，从而导致跌落设备释放高度固定，假设该高度不满足标准要求时，需要将光电传感器部分重新拆卸固定。

针对上述中的相关技术，发明人认为跌落试验的高度固定，其不利于调整高度，也无法满足多种释放高度的要求。

发明内容

为了实时改变跌落实验设备释放高度，本申请提供一种可调释放高度的定向跌落试验设备。

本申请提供的一种可调释放高度的定向跌落试验设备采用如下的技术方案：

一种可调释放高度的定向跌落试验设备，包括保护箱和控制器，所述保护箱内设置有沿竖直方向滑动且用于夹紧待测物的定位机构，所述保护箱内且位于定位机构的一侧设置有升降机构，所述升降机构与控制器电连接，所述升降机构上连接有光电传感器，所述定位机构上设置有与光电传感器适配的挡片，所述定位机构、光电传感器均与控制器电连接。

通过采用上述技术方案，光电传感器和挡片适配，当挡片阻挡光电传感器发射的信号时，光电传感器将阻挡信息传输至控制器上，控制器能控制定位机构松开，使得待测物在指定高度掉落，该过程通过控制器控制，使得试验结果更准确，且控制器实时控制升降机构，从而改变光电传感器的高度，进而改变定位机构释放待测物的高度。

优选的，所述升降机构包括第一升降杆、第一驱动组件、丝杆和滑块，所述第一升降杆连接于保护箱内，所述丝杆转动连接于第一升降杆，所述第一驱动组件连接于第一升降杆顶部，所述第一驱动组件与丝杆顶端连接且用于驱动丝杆转动，所述第一驱动组件与控制器电连接，所述滑块连接于丝杆，所述光电传感器连接于滑块。

通过采用上述技术方案，丝杆转动，滑块沿着丝杆的长度方向运动，从而改变光电传感器的高度，进而改变定位机构释放待测物的高度。

优选的，所述第一升降杆的一侧连接有呈竖直状的第一升降板，所述丝杆位于第一升降板和第一升降杆之间，所述第一升降板的两端穿设滑块的顶面和底面。

通过采用上述技术方案，第一升降板进一步限定滑块的位置，使得滑块沿丝杠长度方向运动时不会发生翻转，从而便于滑块的运动。

优选的，所述滑块远离第一升降杆的侧壁连接有第二升降板，所述光电传感器连接于第二升降板。

通过采用上述技术方案，光电传感器长期使用的情况下需要进行检测，检测时需要将其拆卸，由于光电传感器安装时需要安装相关的电线进行适配，检测时直接将第二升降板连同光电传感器拆卸，便于后续的安装。

优选的，所述第二升降板与滑块连接的侧面连接有第三升降板，所述挡片在第三升降板和第二升降板之间穿设。

通过采用上述技术方案，增设第三升降板从而限定挡板穿设的位置，使得挡板运动的路径被限定。

优选的，所述保护箱内设置有第二升降杆，所述第一升降杆连接于第二升降杆上。