[发明专利]具有闪烁分析电路的事件传感器

说明书

本发明题为“具有闪烁分析电路的事件传感器”。本发明公开了一种成像系统，该成像系统可包括具有事件传感器像素的事件传感器。该事件传感器像素可被配置为如果像素处的光强度改变则触发“事件”。脉冲宽度调制的发光二极管(LED)照明可导致来自事件传感器的该图像在帧之间起伏。当检测到事件时，这可能导致误报(因为即使场景对于人类观看者保持不变，LED闪烁也触发事件传感器的事件)。因此，该成像系统可包括闪烁分析电路，该闪烁分析电路被配置为从事件传感器像素接收光强度信号。基于该光强度信号和与该光强度信号的变化相关联的时间，该闪烁分析电路可确定与该LED相关联的平均亮度。

本申请要求于2019年8月28日提交的临时专利申请号62/892,830的权益，该临时专利申请据此全文以引用的方式并入本文。

技术领域

本发明总体涉及成像传感器，并且更具体地涉及事件传感器。

背景技术

常规的成像传感器测量在像素阵列之间形成图像的光强度。相反，事件传感器检测传感器中每个像素中的光强度是否已更改。这可允许高时间分辨率、高动态范围和减少的运动模糊。

脉冲宽度调制的发光二极管(LED)照明会导致来自常规事件传感器的图像进行逐帧起伏。当检测到事件时，这可能导致误报(因为即使场景对于人类观看者保持不变，LED闪烁也触发事件传感器的事件)。

因此，期望提供改进的事件传感器。

附图说明

图1是根据一个实施方案的具有图像传感器的示例性电子设备的示意图。

图2是根据实施方案的用于读出图像传感器中的图像信号的示例性像素阵列以及相关联的读出电路的示意图。

图3是示出根据实施方案的相对于图像传感器曝露周期的发光二极管(LED)亮度随时间的曲线图。

图4是根据实施方案的包括具有事件检测和闪烁分析电路的事件传感器像素的示例性系统的示意图。

图5是根据实施方案的包括事件传感器像素的示例性系统的示意图，该事件传感器像素向控制和处理电路输出数据，该控制和处理电路包括事件检测和闪烁分析电路。

图6是根据实施方案的示例性系统的示意图，该系统包括具有事件检测电路的事件传感器像素以及具有闪烁分析电路的控制和处理电路。

图7是根据实施方案的示例性系统的示意图，示出了闪烁分析电路如何基于来自事件传感器像素的光强度信号和时间戳来输出平均有效LED亮度。

图8是示出根据实施方案的用于操作具有事件传感器像素和闪烁分析电路的系统(诸如图7的系统)的示例性方法的流程图。

图9是根据实施方案的包括低分辨率事件传感器、高分辨率高动态范围(HDR)传感器和闪烁分析电路的示例性系统的示意图。

图10是示出根据实施方案的用于操作具有低分辨率事件传感器、高分辨率HDR传感器和闪烁分析电路的系统(诸如图9的系统)的示例性方法的流程图。

具体实施方式

本发明的实施方案涉及图像传感器。本领域的技术人员应当理解，本发明的示例性实施方案可在不具有一些或所有这些具体细节的情况下实践。在其他情况下，为了避免不必要地模糊本发明的实施方案，未详细描述众所周知的操作。

电子设备诸如数字相机、计算机、移动电话和其他电子设备可包括图像传感器，该图像传感器收集入射光以捕获图像。图像传感器可包括像素阵列。图像传感器中的像素可包括光敏元件，诸如将入射光转换成光强度信号的光电二极管。图像传感器可具有任何数量(例如，数百或数千或更多)的像素。典型图像传感器可例如具有数十万或数百万像素(例如，数兆像素)。图像传感器可包括控制电路(诸如用于操作像素的电路)和用于读出图像信号的读出电路，该图像信号与光敏元件生成的电荷相对应。