[发明专利]eMMC芯片测试系统和通断电测试方法

说明书

本申请提供了一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法，运用于存储芯片安全性测试技术领域，其由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成eMMC测试系统，XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口，XU4主控芯片与第一信号传输接口连接，电源模块与第一电源接口连接；eMMC芯片测试平台包括第二电源接口、第二信号传输接口、电压转换模块和测试芯片电路，第二电源接口与电压转换模块连接，电压转换模块具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路，第二信号传输接口与测试芯片电路连接；可模仿任何时候eMMC芯片的意外或故意通断电时的电源状态而达到对eMMC所有通断电状况下对数据传输影响的测试。

技术领域

本申请涉及存储芯片安全性测试技术领域，特别涉及为一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法。

背景技术

eMMC(Embedded Multi Media Card)是MMC协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格，属于当前最红的移动设备本体存储芯片。

现有对于eMMC的测试一般有读、写、擦除等相关测试，但对于eMMC的通断电测试仍属于行业空缺领域，在移动设备等产品时常会因为用户重启设备、设备没电而断电等情况在任一时间切断eMMC的电源，又能在任一时间恢复eMMC的电源，因此eMMC的通断电测试极其重要。

发明内容

本申请提供一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法，临摹任何时候eMMC芯片的意外或故意通断电时的电源状态而达到对eMMC所有通断电状况下对数据传输的影响测试，保障eMMC芯片的良品制造率。

本申请为解决技术问题采用如下技术手段：

本申请提出的一种eMMC芯片测试系统，由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成所述eMMC测试系统对eMMC芯片进行通断电测试，其中，

所述XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口，所述数据传输电路和电源模块均与存储设备连接，所述数据传输电路还与XU4主控芯片连接，所述存储设备与XU4主控芯片连接，所述XU4主控芯片与第一信号传输接口连接，所述电源模块与第一电源接口连接；

所述eMMC芯片测试平台包括第二电源接口、第二信号传输接口、电压转换模块和测试芯片电路，所述第二电源接口与电压转换模块连接，所述电压转换模块具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路，所述第二信号传输接口与测试芯片电路连接；

所述数据传输电路与外部的PC设备连接，所述第一电源接口与第二电源接口接通，所述第一信号传输接口与第二信号传输接口接通。

进一步地，所述XU4平台还包括烧录电路，所述烧录电路与XU4主控芯片连接。

进一步地，所述eMMC芯片测试平台还包括电源外接口，所述电源外接口与第二电源接口连接。

进一步地，所述eMMC测试平台还包括3.3V外接口和1.8V外接口，所述3.3V外接口与电压转换模块的第一输出端接入测试芯片电路的线路共线连接，所述1.8V外接口与电压转换模块的第二输出端接口测试芯片电路的线路共线连接。

进一步地，所述eMMC测试平台还包括信号外接口，所述信号外接口接入第二信号传输接口与测试芯片电路的线路上。

进一步地，所述电压转换模块包括第一电压输出电路和第二电压输出电路，所述第一电压输出电路与电压转换模块的第一输出端连接，所述第二电压输出电路与第二输出端连接；

所述第一电压输出电路内设有3.3VGPIO单元，所述第二电压输出电路内设有1.8VGPIO单元。

进一步地，所述eMMC测试系统执行通断电测试方法，所述方法包括：