[发明专利]一种存储介质的错误检测方法、系统及存储系统

说明书

本发明公开一种存储介质的错误检测方法、系统及存储系统。所述存储介质的错误检测方法包括获取存储介质中的每一个擦除块在写入数据时的温度数据，根据所述温度数据，以生成温度数据表，获取写入数据后的擦除块，并将所述写入数据后的擦除块记录于链表中，通过所述温度数据表检测所述擦除块的温度信息，以得到温度检测数据，通过所述链表检测所述擦除块的错误比特数目，以得到错误比特数目检测数据，根据所述温度检测数据和错误比特数目检测数据，以得到擦除块检测结果信息。本发明能够在资料还未遗失前，提前读取风险块的资料。

技术领域

本发明涉及数据存储介质检测技术领域，特别是涉及一种存储介质的错误检测方法、系统及存储系统。

背景技术

闪存是由许多的块构成，每一个块内存在一定的页，用于提供一定资料量的储存及读取的功能，其记录方式主要是根据施加一脉冲电压将电荷储存于Floating Gate(浮动闸门)内，再根据储存于Floating Gate内的电荷多少而产生可以区别的能阶，如此即可施加不同的电压值Vth，确认其可不可以导通来判定资料bit(比特)为0或1。

每一块所能提供的写入、擦除、读取都有一定的次数，当超过其临界值时，资料的不稳定性会越来越严重，进而产生无法修复的坏块，从而产生资料遗失的情况，因此无法读取到完整的资料。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储介质的错误检测方法、系统及存储系统，用于解决现有技术中的每一块所能提供的写入、擦除、读取都有一定的次数，当超过其临界值时，资料的不稳定性会越来越严重，进而产生无法修复的坏块，从而产生资料遗失的情况，因此无法读取到完整的资料的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储介质的错误检测方法，所述存储介质的错误检测方法包括：

获取存储介质中的每一个擦除块在写入数据时的温度数据；

根据所述温度数据，以生成温度数据表；

获取写入数据后的擦除块，并将所述写入数据后的擦除块记录于链表中；

通过所述温度数据表检测所述擦除块的温度信息，以得到温度检测数据；

通过所述链表检测所述擦除块的错误比特数目，以得到错误比特数目检测数据；

根据所述温度检测数据和错误比特数目检测数据，以得到擦除块检测结果信息。

在本发明的一实施例中，所述存储介质的错误检测方法还包括：

将所述写入数据后的擦除块存储于资源池中。

在本发明的一实施例中，所述通过所述温度数据表检测所述擦除块的温度信息，以得到温度检测数据的步骤包括：

遍历所述链表；

获取所述擦除块位于环境的温度信息数据；

将所述温度信息数据与温度检测数据进行对比，以得到所述温度信息数据与温度检测数据之间的温度差数据；

判断所述温度差数据是否在温度设定阈值的范围内，若是，则所述擦除块为正常状态，若否，则所述擦除块为风险块。

在本发明的一实施例中，所述通过所述温度数据表检测所述擦除块的温度信息，以得到温度检测数据的步骤还包括：

若擦除块为风险块，则读取所述擦除块中存储的数据；

将读取到的数据写入至所述存储介质中的另一个擦除块中。

在本发明的一实施例中，所述通过所述链表检测所述擦除块的错误比特数目，以得到错误比特数目检测数据的步骤包括：

遍历所述链表；