[发明专利]一种用于对GPU进行测试的方法及系统

说明书

本发明提供了一种用于对GPU进行测试的方法及系统，包括：接收各GPU电源轨端对应的电压数据；确定各电源轨端对应的第一电压值及第二电压值；根据各第一电压值确定最大电压值，并获得最大电压值对应的第一电源轨端；根据各第二电压值确定最小电压值，并获得最小电压值对应的第二电源轨端；控制第一电源轨端、所述第二电源轨端为导通状态；向待测服务器发送测试指令，接收测试结果；如此，电压最大值及电压最小值可能存在于同一GPU中的同一个电源轨端，也可能存在于不同GPU对应的电源轨端；因此提高测试的可靠性，确保测试精度。

技术领域

本发明属于服务器测试技术领域，尤其涉及一种用于对GPU进行测试的方法及系统。

背景技术

随着人工智能领域热度的持续走高，AI服务器的市场需求逐渐增大，图形处理器(GPU，Graphics Processing Unit)作为服务器的核心计算模块，在AI服务器中扮演着不可或缺的角色，因此对GPU的测试也不能忽略。EDPp是GPU压力脚本的一种，主要用于对GPU进行EDPp认证测试，以对GPU的实际运行性能进行测试。

现有技术中，在对GPU进行EDPp认证测试时，因GPU一般包括多个，为了提高测试效率，一般是根据经验选取一个最差的GPU(称之为Worst Case)，将测试线连接在Worst Case的各个待测电源轨Power Rail端，将示波器的分别探棒与电压最大值及电压最小值对应的Power Rail端相连，然后运行EDPp脚本，获得测试结果。

现有技术至少存在以下缺陷：第一，Worst Case的选取方式为经验判断，误差较大；第二，现有技术仅对Worst Case进行测试，那么即默认为电压最大值及电压最小值是同时存在Worst Case的Power Rail中的，但是电压最大值或电压最小值也可能存在其他未进行测试的GPU的Power Rail中。因此现有技术中的测试方式削弱了测试的可靠性，降低了测试精度。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明实施例提供了一种用于对GPU进行测试的方法及系统，用于解决现有技术中，对GPU进行EDPp认证测试时，测试的可靠性不高，导致测试精度低的技术问题。

本发明提供一种用于对GPU进行测试的方法，所述方法包括：

接收由数据采集器发送的各GPU电源轨端对应的电压数据；所述GPU包括：待测服务器中包含的所有GPU；

确定各所述电源轨端对应的第一电压值及第二电压值；

根据各所述第一电压值确定最大电压值，并获得所述最大电压值对应的第一电源轨端；根据各所述第二电压值确定最小电压值，并获得所述最小电压值对应的第二电源轨端；

控制所述第一电源轨端、所述第二电源轨端为导通状态，使得所述第一电源轨端及所述第二电源轨端分别与示波器对应的探棒相连；

向所述待测服务器发送测试指令，并接收由所述示波器发送的测试结果。

可选的，所述确定各所述电源轨端对应的第一电压值及第二电压值，包括：

针对任一所述电源轨端，基于预设的数据获取策略获取多个第三电压值及第四电压值；

确定所述多个第三电压值的第一平均值；所述第一平均值为所述第一电压值；

确定所述多个第四电压值的第二平均值；所述第二平均值为所述第二电压值。

可选的，所述控制所述第一电源轨端、所述第二电源轨端为导通状态，包括：

向处理器发送逻辑状态控制指令；所述处理器根据所述逻辑状态控制指令控制所述第一电源轨端对应的逻辑开关及所述第二电源轨端对应的逻辑开关为闭合状态。

可选的，所述发送测试指令之前，还包括：