[发明专利]膜材检测装置及检测方法

说明书

本发明公开一种膜材检测装置及检测方法，所述膜材检测装置包括偏振检测仪，旋转支架以及检测光源，待测膜材设于所述旋转支架上，所述检测光源发出的光线在传输至所述旋转支架上的待测膜材后，透射或反射传输至所述偏振检测仪。本发明提供一种膜材检测装置及检测方法，解决了无法准确确定复合膜材中不同膜层之间的轴向角度差，无法直观对复合膜材的质量进行评价的问题。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种膜材检测装置及检测方法。

背景技术

在现有的成像技术领域中，尤其是虚拟现实领域中，通常会采用折叠光路的方式减小光学系统的体积，而为了实现折叠光路的方案，需要在光学透镜的表面镀膜或贴附膜材，以实现光线的偏振方向的变化。

在光学透镜的表面贴附膜材的方式工艺简单，并且具有较高的可操作性。膜材的轴向直接影响折叠光路的光线传输效率，目前贴附膜材的方式主要是首先确定单层膜的轴向后，根据膜层轴向进行贴合，但是对于复合膜材，由于无法准确的确定复合膜材中不同膜层之间的轴向角度差，从而无法直观的对复合膜材的质量进行评价，导致无法准确判断复合膜材对折叠光路光学系统的影响。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明提供一种膜材检测装置及检测方法，旨在解决现有技术中无法准确确定复合膜材中不同膜层之间的轴向角度差，无法直观对复合膜材的质量进行评价的问题。

为实现上述目的，本发明提出了一种膜材检测装置，所述膜材检测装置包括偏振检测仪，旋转支架以及检测光源，待测膜材设于所述旋转支架上，所述检测光源发出的光线在传输至所述旋转支架上的待测膜材后，透射或反射传输至所述偏振检测仪。

可选的，所述膜材检测装置还包括参考相位延迟器，所述参考相位延迟器设于所述检测光源与所述旋转支架之间。

可选的，所述膜材检测装置还包括偏振片，所述偏振片的吸收轴与所述参考相位延迟器的延迟轴的夹角为45度。

可选的，所述检测光源为激光光源。

可选的，所述旋转支架上开设有通光孔，所述检测光源发出的光线经过所述待测膜材后，透过所述通光孔传输至所述偏振检测仪。

为实现上述目的，本申请提出一种膜材检测方法，应用于如上述任一项实施方式所述的膜材检测装置，所述膜材检测方法包括：

将待测膜材设置在所述旋转支架上；

转动所述旋转支架，获取进入所述偏振检测仪的光线的检测信息；

根据所述检测信息确定所述待测膜材中的轴向信息。

可选的，所述膜材检测装置还包括偏振片，所述偏振片设于所述检测光源与所述旋转支架之间，所述将待测膜材设置在所述旋转支架上的步骤，之前还包括：

调整所述偏振片的偏振方向至预设方向；

所述根据所述检测信息确定所述待测膜材中的轴向信息的步骤包括：

根据所述预设方向与所述检测信息确定所述待测膜材的轴向信息。

可选的，所述膜材检测装置还包括参考相位延迟器，所述参考相位延迟器设于所述待测膜材与所述偏振片之间，所述调整所述偏振片的偏振方向至预设方向的步骤，之后还包括：

调整所述参考相位延迟器的设置方向，以使所述检测光源发出的光线在经过所述参考相位延迟器后转变为圆偏振光。

可选的，所述膜材检测方法还包括：

将所述待测膜材贴附于光学透镜的表面；