[发明专利]膜材检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种膜材检测装置，其特征在于，所述膜材检测装置包括偏振检测仪，旋转支架以及检测光源，待测膜材设于所述旋转支架上，所述检测光源发出的光线在传输至所述旋转支架上的待测膜材后，透射或反射传输至所述偏振检测仪。

2.如权利要求1所述的膜材检测装置，其特征在于，所述膜材检测装置还包括参考相位延迟器，所述参考相位延迟器设于所述检测光源与所述旋转支架之间。

3.如权利要求2所述的膜材检测装置，其特征在于，所述膜材检测装置还包括偏振片，所述偏振片的吸收轴与所述参考相位延迟器的延迟轴的夹角为45度。

4.如权利要求1所述的膜材检测装置，其特征在于，所述检测光源为激光光源。

5.如权利要求1所述的膜材检测装置，其特征在于，所述旋转支架上开设有通光孔，所述检测光源发出的光线经过所述待测膜材后，透过所述通光孔传输至所述偏振检测仪。

6.一种膜材检测方法，其特征在于，应用于膜材检测装置，所述膜材检测装置沿光线传输方向依次包括检测光源、旋转支架以及偏振检测仪，所述膜材检测方法包括：

将待测膜材设置在所述旋转支架上；

转动所述旋转支架，获取进入所述偏振检测仪的光线的检测信息；

根据所述检测信息确定所述待测膜材中的轴向信息。

7.如权利要求6所述的膜材检测方法，其特征在于，所述膜材检测装置还包括偏振片，所述偏振片设于所述检测光源与所述旋转支架之间，所述将待测膜材设置在所述旋转支架上的步骤，之前还包括：

调整所述偏振片的偏振方向至预设方向；

所述根据所述检测信息确定所述待测膜材中的轴向信息的步骤包括：

根据所述预设方向与所述检测信息确定所述待测膜材的轴向信息。

8.如权利要求7所述的膜材检测方法，其特征在于，所述膜材检测装置还包括参考相位延迟器，所述参考相位延迟器设于所述待测膜材与所述偏振片之间，所述调整所述偏振片的偏振方向至预设方向的步骤，之后还包括：

调整所述参考相位延迟器的设置方向，以使所述检测光源发出的光线在经过所述参考相位延迟器后转变为圆偏振光。

9.如权利要求6所述的膜材检测方法，其特征在于，所述膜材检测方法还包括：

将所述待测膜材贴附于光学透镜的表面；

设置所述光学透镜在所述旋转支架上，所述待测膜材贴附于所述光学透镜远离所述检测光源的一侧；

执行转动所述旋转支架，获取进入所述偏振检测仪的光线的检测信息的步骤。

10.如权利要求6所述的膜材检测方法，其特征在于，所述膜材检测方法还包括：

获取所述偏振检测仪的偏振排布值；

当所述偏振排布值大于或等于预设排布值时，执行所述将待测膜材设置在所述旋转支架上的步骤。