[发明专利]SiC JBS器件的高温高湿反偏应力损伤表征方法在审
申请号: | 202010733221.5 | 申请日: | 2020-07-27 |
公开(公告)号: | CN112051495A | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 游海龙;李文臻;曲程 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学;西安电子科技大学芜湖研究院 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;H01L29/872;H01L29/16 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 李园园 |
地址: | 710000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | sic jbs 器件 高温 高湿反偏 应力 损伤 表征 方法 | ||
1.一种SiC JBS器件的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,包括:
获取表面完整的第一SiC JBS二极管;
测量所述第一SiC JBS二极管的初始电学特性参数;
测量所述第一SiC JBS二极管的初始噪声特性参数;
对所述第一SiC JBS二极管在预设温度、预设湿度、预设反向偏压条件下暴露预设时间,得到第二SiC JBS二极管;
测量所述第二SiC JBS二极管的电学特性参数;
测量所述第二SiC JBS二极管的噪声特性参数;
根据所述第一SiC JBS二极管的初始电学特性参数和所述第二SiC JBS二极管的电学特性参数得到电学特性参数漂移程度;
根据所述第一SiC JBS二极管的初始噪声特性参数和所述第二SiC JBS二极管的噪声特性参数得到噪声特性参数漂移程度。
2.根据权利要求1所述的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,获取表面完整的第一SiC JBS二极管,包括:
获取所述第一SiC JBS二极管;
检查所述第一SiC JBS二极管的外表面,得到表面完整的所述第一SiC JBS二极管。
3.根据权利要求1所述的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,测量所述第一SiC JBS二极管的初始电学特性参数,包括:
测量得到所述第一SiC JBS二极管的正向压降、反向漏电流、反向击穿电压。
4.根据权利要求1所述的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,测量所述第一SiC JBS二极管的初始噪声特性参数,包括:
测量所述第一SiC JBS二极管的噪声;
根据所述第一SiC JBS二极管的噪声得到所述第一SiC JBS二极管的噪声幅值。
5.根据权利要求1所述的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,对所述第一SiC JBS二极管在预设温度、预设湿度、预设反向偏压条件下暴露预设时间,得到第二SiCJBS二极管,包括:
在温度为85℃±2℃、湿度为85%RH±5、反向偏压为80%VRRM的条件下暴露168小时,得到第二SiC JBS二极管。
6.根据权利要求3所述的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,测量所述第二SiC JBS二极管的电学特性参数,包括:
测量得到所述第二SiC JBS二极管的正向压降、反向漏电流、反向击穿电压。
7.根据权利要求4所述的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,测量所述第二SiC JBS二极管的噪声特性参数,包括:
测量所述第二SiC JBS二极管的噪声;
根据所述第二SiC JBS二极管的噪声得到所述第二SiC JBS二极管的噪声幅值。
8.根据权利要求5所述的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,根据所述第一SiC JBS二极管的初始电学特性参数和所述第二SiC JBS二极管的电学特性参数得到电学特性参数漂移程度,包括:
根据所述第一SiC JBS二极管的正向压降和所述第二SiC JBS二极管的正向压降得到所述正向压降的漂移程度;或/和,
根据所述第一SiC JBS二极管的反向漏电流和所述第二SiC JBS二极管的反向漏电流得到所述反向漏电流的漂移程度;或/和,
根据所述第一SiC JBS二极管的反向击穿电压和所述第二SiC JBS二极管的反向击穿电压得到所述反向击穿电压的漂移程度。
9.根据权利要求6所述的高温高湿反偏应力损伤表征方法,其特征在于,根据所述第一SiC JBS二极管的初始噪声特性参数和所述第二SiC JBS二极管的噪声特性参数得到噪声特性参数漂移程度,包括:
根据所述第一SiC JBS二极管的噪声幅值和所述第二SiC JBS二极管的噪声幅值得到所述噪声幅值的漂移程度。
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