[发明专利]检查方法、磁盘装置的检查方法以及电子部件

权利要求书

1.一种检查方法，包括：

在两个第1端子之间通过第1探针被短路的状态下，检查电路向第1路径供给电能，所述两个第1端子包含于挠性印制电路板具备的多个第2端子，所述挠性印制电路板具备：具有所述检查电路和多个第3端子的电子部件、所述多个第2端子、以及将所述多个第2端子与所述多个第3端子连接的多条第1布线，所述第1路径由所述两个第1端子、所述多条第1布线中的连接于所述两个第1端子的两条第2布线、以及所述多个第2端子中的连接于所述两条第2布线的两个第4端子形成；和

在向所述第1路径供给了所述电能时，所述检查电路检测与所述第1路径关联的电特性。

2.根据权利要求1所述的检查方法，

所述电子部件具备开关，

所述检查方法包括：

在所述两个第1端子之间通过所述第1探针被短路、且所述多个第2端子中的与所述两个第1端子不同的两个第5端子之间通过与所述第1探针不同的第2探针被短路的状态下，所述开关将所述第1路径与第2路径串联连接，所述第2路径由所述两个第5端子、所述多条第1布线中的连接于所述两个第5端子的两条第3布线、以及所述多个第3端子中的连接于所述两条第3布线的两个第6端子形成；和

所述供给是所述检查电路向第3路径供给所述电能，所述第3路径包括所述第1路径和与所述第1路径串联连接的所述第2路径。

3.根据权利要求1所述的检查方法，

所述挠性印制电路板连接于检查装置，

所述检查方法还包括：

在所述两个第1端子之间通过所述第1探针被短路、且所述多个第2端子中的与所述两个第1端子不同的两个第5端子之间通过与所述第1探针不同的第2探针被短路的状态下，所述检查装置向所述第1探针与所述第2探针之间供给电能；和

在向所述第1探针与所述第2探针之间供给了所述电能时，所述检查装置检测所述第1探针与所述第2探针之间的电特性。

4.根据权利要求1或者3所述的检查方法，还包括：

所述检查电路向第2路径供给电能，所述第2路径由所述两个第5端子、所述多条第1布线中的连接于所述两个第5端子的两条第3布线、以及所述多个第3端子中的连接于所述两条第3布线的两个第6端子形成；和

在向所述第2路径供给了所述电能时，所述检查电路检测与所述第2路径关联的电特性。

5.一种检查方法，包括：

在与接地电位连接的探针与第1端子和第2端子接触的状态下，检查电路在不同的期间分别向第1路径和第2路径供给电能，所述第1端子和所述第2端子包含于挠性印制电路板所具备的多个第3端子，所述挠性印制电路板具备：具有所述检查电路和多个第4端子的电子部件、所述多个第3端子、以及将所述多个第3端子和所述多个第4端子连接的多条第1布线，所述第1路径由所述第1端子、所述多条第1布线中的连接于所述第1端子的第2布线、以及所述多个第4端子中的连接于所述第2布线的第5端子形成，所述第2路径由所述第2端子、所述多条第1布线中的连接于所述第2端子的第3布线、以及所述多个第4端子中的连接于所述第3布线的第6端子形成；

在向所述第1路径供给了所述电能的期间，所述检查电路检测与所述第1路径关联的电特性；和

在向所述第2路径供给了所述电能的期间，所述检查电路检测与所述第2路径关联的电特性。

6.一种电子部件，具备：

多个第1端子；和

检测电路，其在与所述多个第1端子中的两个第2端子连接的两条第1布线彼此短路的状态下，向第1路径供给电能，所述第1路径由所述两个第2端子和彼此短路的所述两条第1布线形成，在向所述第1路径供给了所述电能时检测与所述第1路径关联的电特性。