[发明专利]轨道波形确定方法、装置及电子设备、存储介质有效
| 申请号: | 202010697233.7 | 申请日: | 2020-07-20 |
| 公开(公告)号: | CN112033316B | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
| 发明(设计)人: | 王源 | 申请(专利权)人: | 深圳市埃伯瑞科技有限公司 |
| 主分类号: | G01B17/08 | 分类号: | G01B17/08 |
| 代理公司: | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人: | 袁文英 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区南山街道登*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 轨道 波形 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种轨道波形确定方法,其特征在于,所述方法包括:
根据位于目标轨道区段中的第一直线对应间隔设置的多个第一距离传感器,按照预设采样步长分别测量到的多组组合第一弦测值,确定在轨道延伸方向上的第一直线对应的第一轨道波形;
根据位于目标轨道区段中与所述第一直线间隔设置的第二直线上的一个第二距离传感器,按照预设采样步长测量在轨道延伸方向上的一组第一距离实测值;
根据算式
确定在所述第一直线上与所述第二距离传感器对应的位置按照预设采样步长测量到的在目标轨道区段中的一组第三距离实测值,其中,y*[i]为在所述第一直线上与所述第二距离传感器对应的位置在所述第一轨道波形中的波形值、y*[i-δ]为多个第一距离传感器中排序最靠前的第一距离传感器在所述第一轨道波形中的波形值,y*[i+n-δ]为多个第一距离传感器中排序最靠后的第一距离传感器在所述第一轨道波形中的波形值,δ为第二距离传感器与多个第一距离传感器中排序最靠前的第一距离传感器在轨道延伸方向上之间的采样点数、n为多个第一距离传感器中排序最靠前的第一距离传感器与排序最靠后的第一距离传感器在轨道延伸方向上之间的采样点数、S前(i)为根据所述多个第一距离传感器中排序最靠前的第一距离传感器测量到的一组第二距离实测值、S后[i]为所述多个第一距离传感器中排序最靠后的第一距离传感器测量到的一组第二距离弦测值、Pδ(i)为所述第三距离实测值;
根据算式yδ*=y*+(Sδ-Pδ),确定在轨道延伸方向上的第二直线对应的第二轨道波形,其中,yδ*为所述第二轨道波形,y*为所述第一轨道波形,Sδ为一组所述第一距离实测值,Pδ为一组所述第三距离实测值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,Pδ(i)=Sx(i),其中,Sx(i)为多个第一距离传感器中排序为X的第一距离传感器测量到的一组第二距离实测值,其中,x∈Ivec,Ivec=(0,1,.....,N-2n-1),N为目标轨道区段中在第一直线上的包含的总的采样点数,所述第二距离传感器的位置与所述在所述第一直线上排序为X的第一距离传感器的位置在水平方向上的坐标相同。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据位于目标轨道区段中与所述第一直线间隔设置的第二直线上的一个第二距离传感器,按照预设采样步长测量在轨道延伸方向上的一组第一距离实测值包括:根据位于目标轨道区段中与所述第一直线间隔设置的多条第二直线上分别对应的一个第二距离传感器,按照预设采样步长分别测量在轨道延伸方向上的多条所述第二直线分别对应的一组第一距离实测值;
所述根据算式yδ*=y*+(Sδ-Pδ),确定在轨道延伸方向上的第二直线对应的第二轨道波形包括:根据算式yδ*=y*+(Sδ-Pδ),确定在轨道延伸方向上的多个所述第二直线分别对应的第二轨道波形;
所述方法还包括:根据所述多个所述第二直线分别对应的第二轨道波形,确定在轨道延伸方向上的轨面波形。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述多条第二直线的数量大于预设的数量,且所述多条第二直线分别位于第一直线两侧,且第一直线、多条第二直线之间等间距设置,且间距小于预设的阈值。
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