[发明专利]细分曲线数据处理方法、系统、介质及矢量图形处理装置在审
申请号: | 202010693897.6 | 申请日: | 2020-07-17 |
公开(公告)号: | CN113947519A | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
发明(设计)人: | 迟丞;李江波;迈克·蔡 | 申请(专利权)人: | 芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原控股有限公司;芯原微电子(南京)有限公司 |
主分类号: | G06T1/60 | 分类号: | G06T1/60;G06T1/20;G06F16/22;G06F12/0811 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 徐秋平 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 细分 曲线 数据处理 方法 系统 介质 矢量 图形 处理 装置 | ||
本发明提供一种细分曲线数据处理方法、系统、介质及矢量图形处理装置,包括:在存储器中构建一包括内容表和信息表的数据结构;当细分曲线产生的矢量线与X/Y行相交得到一个新的交叉点时,根据交叉点的Y/X坐标对应的水平/竖直行在所述内容表中读取对应的信息表的地址和X/Y节点个数;根据读取的信息表的地址和X/Y节点个数在存储器中读取对应的X/Y节点信息;比较交叉点信息和读取的X/Y节点信息,在Y/X坐标对应的水平/竖直行的信息表上更新或增加X/Y节点。本发明的细分曲线数据处理方法、系统、介质及矢量图形处理装置通过只保存细分曲线产生的有效交叉点的填充信息来代替保存整个矢量图形所有像素的填充信息,有效地减少了对存储器资源的需求,提升了矢量图形渲染的性能。
技术领域
本发明涉及数据结构的处理方法,特别是涉及一种细分曲线(Tessellation)的数据结构处理方法、系统、介质及矢量图形处理装置。
背景技术
Tessellation技术,也被称为细分曲线技术。在矢量图形(Vector Graphic)的应用中,tessellation产生的线与某个Y行生成交叉(intersection)点,这些交叉点需要存放于存储器(memory)。Tessellation处理完成当前矢量图形后,再将存储器中存放的交叉点数据读回;并根据交叉点的填充和位置信息计算矢量图形中每一个像素(pixel)的覆盖率值,按照填充规则绘制出整个矢量图形。
现有技术中,Tessellation的数据结构(Data structure)中存储器中存放信息为整个矢量图形所有像素的填充和统计信息,这种实现方式导致Tessellation对于存储器资源的需求很大。
另外,在Tessellation处理完整个矢量图形后,使用现有技术中的数据结构需要根据矢量图形位置从上到下、从左到右的顺序将存储器中的数据全部读回,寻找到交叉点,进行填充判断。上述存储器数据读回方式具有以下缺陷:
(1)导致系统的带宽很大;
(2)寻找交叉点花费的时间很长,相当于对于矢量图形填充增加了很大的气泡时间,严重影响了渲染的性能。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种矢量图形处理装置中细分曲线数据处理方法、系统、介质及矢量图形处理装置,通过只保存细分曲线产生的有效交叉点的填充信息来代替保存整个矢量图形所有像素的填充信息,有效地减少了对存储器资源的需求,提升了矢量图形渲染的性能。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种矢量图形处理装置中细分曲线数据处理方法,包括以下步骤:在存储器中构建一数据结构,所述数据结构包括X节点内容表和X节点信息表或包括Y节点内容表和Y节点信息表;所述X节点内容表用于存储每个水平行对应的信息表在所述存储器中的地址和所述信息表中X节点个数,所述X节点信息表用于存储水平行对应的信息表包含的X节点信息;所述Y节点内容表用于存储每个竖直行对应的信息表在所述存储器中的地址和所述信息表中Y节点个数,所述Y节点内容表用于存储竖直行对应的信息表包含的Y节点信息;当所述数据结构包括X节点内容表和X节点信息表,细分曲线产生的矢量线与X行相交得到一个新的交叉点时,根据所述交叉点的Y坐标对应的水平行在所述内容表中读取对应的信息表的地址和X节点个数;根据读取的信息表的地址和X节点个数在所述存储器中读取对应的X节点信息;比较所述交叉点信息和读取的X节点信息,在所述Y坐标对应的水平行的信息表上更新或增加X节点;当所述数据结构包括Y节点内容表和Y节点信息表,细分曲线产生的矢量线与Y行相交得到一个新的交叉点时,根据所述交叉点的X坐标对应的竖直行在所述内容表中读取对应的信息表的地址和Y节点个数;根据读取的信息表的地址和Y节点个数在所述存储器中读取对应的Y节点信息;比较所述交叉点信息和读取的Y节点信息,在所述X坐标对应的竖直行的信息表上更新或增加Y节点。
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