[发明专利]一种检测极片粉尘颗粒的方法以及装置在审
申请号: | 202010689549.1 | 申请日: | 2020-07-17 |
公开(公告)号: | CN111965092A | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 吴辉 | 申请(专利权)人: | 重庆市紫建电子股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 李盛洪 |
地址: | 405400 重庆市开*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 粉尘 颗粒 方法 以及 装置 | ||
本发明公开了一种检测极片粉尘颗粒的方法以及装置,所述方法包括:提取一片待检测的极片;使用制造锂离子电池的隔膜上下平展包覆所述待检测的极片;使用平面压块将所述隔膜和极片进行压紧,所述隔膜和极片在平面压块的作用下紧密接触;所述隔膜和极片在压紧一定时间后,取下平面压块;取下上隔膜,将所述上隔膜平行放置到洁净的第一载玻片和第一盖玻片中,取下下隔膜,将所述下隔膜平行放置到洁净的第二载玻片和第二盖玻片中;将第一盖玻片朝上放置于高倍放大设备中,观察和统计粉尘颗粒的数量,将第二盖玻片朝上放置于高倍放大设备中,观察和统计粉尘颗粒的数量,本发明的方法和装置,操作简单,能直接观察和统计待检测极片上的粉尘颗粒的数量。
技术领域
本发明涉及锂离子电池制造领域,特别涉及一种检测极片粉尘颗粒的方法以及装置。
背景技术
随着电子技术的发展,人们对于电子类产品各项性能的要求也越来越高。锂离子电池是电子类产品的核心部件之一,人们对锂离子电池的性能有着极高地要求,尤其对于需要提供高电压的用电器来说,电池电压衰减的一致性,直接影响电池的寿命,电池的电压衰减速度主要取决于内部杂质的大小及含量,主要的杂质来源于极片的制造加工过程中,极片表面会附着极粉、金属屑等细小的杂质,需要在制造过程中及时除去杂质。
锂离子电池是一种可充电二次电池,极片的制作过程:如浆料涂覆于集流体上,可能由于粘附力不够,导致容易掉粉脱粉现象;辊压粘附粉料导致过程中吸附于极片上流转至后工序;分条刀磨损缺损导致毛边掉粉、金属碎屑;模切或冲切模具刀口缺损导致掉粉,毛刺过大;极片段各工序存在大量风险导致压降过大、循环性能下降。目前制造商一般是通过毛刷、负压吸尘、离子风机吹扫等方法除粉清粉,但评估的方法一般是直接使用放大设备观察,由于色差问题,很难有效评估粉尘数量。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中的上述缺陷,提供一种检测极片粉尘颗粒的方法以及装置,操作简单,取材方便,检测效率高,能直接观察和统计待检测极片上的粉尘颗粒的数量,能够简便有效的检测出待检测极片上的粉料粘结力,极片掉粉和极片上残留的粉尘颗粒,为下一步改善锂离子电池压降提供数据支持,同时间接提高对极片的制造能力和生产效率。
为实现上述目的,本发明提供了一种检测极片粉尘颗粒的方法,包括:提取一片待检测的极片;使用制造锂离子电池的隔膜上下平展包覆所述待检测的极片;使用平面压块将所述隔膜和极片进行压紧,所述隔膜和极片在平面压块的作用下紧密接触;所述隔膜和极片在压紧一定时间后,取下平面压块;取下上隔膜,将所述上隔膜平行放置到洁净的第一载玻片和第一盖玻片中,取下下隔膜,将所述下隔膜平行放置到洁净的第二载玻片和第二盖玻片中;将第一盖玻片朝上放置于高倍放大设备中,观察和统计粉尘颗粒的数量,将第二盖玻片朝上放置于高倍放大设备中,观察和统计粉尘颗粒的数量。
作为优选的,所述待检测的极片为已完成涂布、辊压、分条、模切或冲切工序的极片。
作为优选的,所述制造锂离子电池的隔膜为聚丙烯PP材料构件、聚乙烯PE材料构件或者陶瓷材料构件。
作为优选的,所述平面压块的重量在10-1000克之间。
作为优选的,所述隔膜和极片的压紧时间在1-10min之间。
作为优选的,所述上隔膜与极片接触面为上隔膜内表面,所述上隔膜与极片非接触面为上隔膜外表面,所述上隔膜内表面正对第一盖玻片,所述上隔膜外表面正对第一载玻片。
作为优选的,所述下隔膜与极片接触面为下隔膜内表面,所述下隔膜与极片非接触面为下隔膜外表面,所述下隔膜内表面正对第二盖玻片,所述下隔膜外表面正对第二载玻片。
作为优选的,所述高倍放大设备为CCD、二次元、三次元或者显微镜。
本发明还提供一种检测极片粉尘颗粒的装置,包括:
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