[发明专利]一种检测极片粉尘颗粒的方法以及装置

权利要求书

1.一种检测极片粉尘颗粒的方法，其特征在于，包括：

步骤S1，提取一片待检测的极片；

步骤S2，使用制造锂离子电池的隔膜上下平展包覆所述待检测的极片；

步骤S3，使用平面压块将所述隔膜和极片进行压紧，所述隔膜和极片在平面压块的作用下紧密接触；

步骤S4，所述隔膜和极片在压紧一定时间后，取下平面压块；

步骤S5，取下上隔膜，将所述上隔膜平行放置到洁净的第一载玻片和第一盖玻片中，取下下隔膜，将所述下隔膜平行放置到洁净的第二载玻片和第二盖玻片中；

步骤S6，将第一盖玻片朝上放置于高倍放大设备中，观察和统计粉尘颗粒的数量，将第二盖玻片朝上放置于高倍放大设备中，观察和统计粉尘颗粒的数量。

2.根据权利要求1所述的一种检测极片粉尘颗粒的方法，其特征在于，所述待检测的极片为已完成涂布、辊压、分条、模切或冲切工序的极片。

3.根据权利要求1所述的一种检测极片粉尘颗粒的方法，其特征在于，所述制造锂离子电池的隔膜为聚丙烯PP材料构件、聚乙烯PE材料构件或者陶瓷材料构件。

4.根据权利要求1所述的一种检测极片粉尘颗粒的方法，其特征在于，所述平面压块的重量在10-1000克之间。

5.根据权利要求1所述的一种检测极片粉尘颗粒的方法，其特征在于，所述隔膜和极片的压紧时间在1-10min之间。

6.根据权利要求1所述的一种检测极片粉尘颗粒的方法，其特征在于，所述上隔膜与极片接触面为上隔膜内表面，所述上隔膜与极片非接触面为上隔膜外表面，所述上隔膜内表面正对第一盖玻片，所述上隔膜外表面正对第一载玻片。

7.根据权利要求1所述的一种检测极片粉尘颗粒的方法，其特征在于，所述下隔膜与极片接触面为下隔膜内表面，所述下隔膜与极片非接触面为下隔膜外表面，所述下隔膜内表面正对第二盖玻片，所述下隔膜外表面正对第二载玻片。

8.根据权利要求1所述的一种检测极片粉尘颗粒的方法，其特征在于，所述高倍放大设备为CCD、二次元、三次元或者显微镜。

9.一种检测极片粉尘颗粒的装置，包括：

高倍放大设备，用于对第一盖玻片和第二盖玻片进行放大和拍照，得到放大后的第一盖玻片图像和第二盖玻片图像；

存储单元，与所述高倍放大设备相连接，用于存储所述第一盖玻片图像和第二盖玻片图像；

处理单元，与所述存储单元相连接，用于对所述第一盖玻片图像和第二盖玻片图像进行图像处理，得到易于观察的图像；

显示单元，与所述处理单元相连接，观察所述图像并对所述图像上的粉尘颗粒的数量进行统计。

10.根据权利要求9所述的一种检测极片粉尘颗粒的装置，其特征在于，所述第一盖玻片上装设有经过与待检测极片紧密接触的上隔膜，所述第二盖玻片上装设有经过与待检测极片紧密接触的下隔膜；

所述上隔膜和下隔膜为制造锂离子电池的隔膜；

所述上隔膜平展包覆所述待检测的极片的一侧并被平面压块将上隔膜和待检测的极片进行压紧，所述下隔膜平展包覆所述待检测的极片的另一侧并被平面压块将下隔膜和待检测的极片进行压紧；

所述上隔膜与极片接触面为上隔膜内表面，所述上隔膜与极片非接触面为上隔膜外表面，所述上隔膜内表面正对第一盖玻片，所述上隔膜外表面正对第一载玻片，所述下隔膜与极片接触面为下隔膜内表面，所述下隔膜与极片非接触面为下隔膜外表面，所述下隔膜内表面正对第二盖玻片，所述下隔膜外表面正对第二载玻片；

所述高倍放大设备为CCD、二次元、三次元或者显微镜。