[发明专利]一种基于逻辑特征的自动耦合方法及系统

说明书

本发明公开了一种基于逻辑特征的自动耦合方法及系统，包括：从芯片的版图设计文件中获得待耦合的输入、输出器件的元件识别信息、输入输出信息以及位置信息；获得某一元件的输入、输出器件的坐标数据；使输入、输出耦合端分别移动到与所述输入、输出器件的坐标数据对应的位置；对所述输入器件和输出器件进行耦合测试；若还有未完成耦合的元件，则选择一个未完成耦合的元件，获得其未经过耦合测试的输入、输出器件的坐标数据，返回执行耦合端移动步骤。本发明能够实现对复杂或定制化的芯片自动耦合。

技术领域

本发明属于芯片耦合测试技术领域，具体涉及一种基于逻辑特征的自动耦合方法及系统。

背景技术

随着光电子的发展，光芯片耦合的需求也日益增加，光芯片耦合时主要需求以下参数：1)待耦合元件的坐标信息，2)待耦合元件的链接关系，即确定光通路径的信息；现有耦合方法无法同时有效获取全部待耦合元件的以上参数，通常是采用一些方法获取别的信息以替代需求的参数，但是这样的替代适用面比较窄，只有在一些特定的情况下才能进行自动耦合。

现有耦合方法主要针对被耦合元件排列有规律的情况下进行耦合，提取元件相对位置信息进行耦合，利用元件的坐标信息的强规律性，对坐标信息进行处理，解读出耦合所需的坐标信息及链接关系，但是适用面较窄。在面对复杂的耦合元件，比如单进多出的元件，或者复杂的设计布局，比如多个元件的坐标范围有交叉，这时现有的耦合方法及装置往往无法明确待耦合元件光栅之间的对应关系。

现有的耦合方法在面对灵活多变的设计文件时，仅能进行芯片中一部分简单布局的自动耦合，或者仅能针对简单布局的设计文件进行耦合，无法满足对全部设计文件进行自动耦合的需求。

现有的耦合方法在面对灵活多变的设计文件时，其中布局比较复杂的部分耦合依赖于人工操作，不可避免引入人工误差，耦合结果的一致性与可靠性也降低，并且人工成本也很高，人工耦合时间效率也低于自动耦合。

由于现有的耦合方法局限性太大，一种方法是选择调整设计版图使设计的元件有强烈的规律性，这样会导致浪费部分版图空间，现有流片时间周期长，每次流片机会都很宝贵，此种方法显然并不可取；还有一种方法也就是现在通用的做法，光耦合时对于无法自动耦合的部分采用人工耦合的方式，而该方式缺点明显，并不能满足日益增长高度发展的光耦合需求。

发明内容

针对现有技术中所存在的不足，本发明提供了一种能够实现对复杂或定制化的芯片自动耦合的基于逻辑特征的自动耦合方法及系统。

本发明的一个方面，一种基于逻辑特征的自动耦合方法，包括：

特征提取步骤：从芯片的版图设计文件中获得待耦合的输入器件和输出器件的元件识别信息、输入输出信息以及位置信息；

坐标获取步骤：根据所述元件识别信息、输入输出信息以及位置信息，获得某一元件的输入器件和输出器件的坐标数据；

耦合端移动步骤：使输入耦合端和输出耦合端分别移动到所述芯片上与所述输入器件和输出器件的坐标数据对应的位置；

耦合步骤：对所述输入器件和输出器件进行耦合测试；

自动耦合判断步骤：若还有未完成耦合的元件，则选择一个未完成耦合的元件，获得其未经过耦合测试的输入器件和输出器件的坐标数据，返回执行所述耦合端移动步骤。

一种优化方案，所述对所述输入器件和输出器件进行耦合测试包括：所述输入耦合端和输出耦合端在与所述坐标数据对应的位置附近扫描光功率，记录最大光功率位置的坐标信息；

在返回执行所述耦合端移动步骤之前，还包括：

修正坐标获取步骤：以所述最大光功率位置为基准，根据所述未经过耦合测试的输入器件和输出器件与上一次耦合的输入器件和输出器件的坐标数据变化量，获得用于移动所述输入耦合端和输出耦合端的输入器件和输出器件的坐标数据。