[发明专利]一种基于逻辑特征的自动耦合方法及系统在审

专利信息
申请号: 202010682075.8 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN111797582A 公开(公告)日: 2020-10-20
发明(设计)人: 何金城;赵恒;冯俊波;曹国威 申请(专利权)人: 联合微电子中心有限责任公司
主分类号: G06F30/3308 分类号: G06F30/3308
代理公司: 重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213 代理人: 霍维英
地址: 400030 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 逻辑 特征 自动 耦合 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于逻辑特征的自动耦合方法,其特征在于,包括:

特征提取步骤:从芯片的版图设计文件中获得待耦合的输入器件和输出器件的元件识别信息、输入输出信息以及位置信息;

坐标获取步骤:根据所述元件识别信息、输入输出信息以及位置信息,获得某一元件的输入器件和输出器件的坐标数据;

耦合端移动步骤:使输入耦合端和输出耦合端分别移动到所述芯片上与所述输入器件和输出器件的坐标数据对应的位置;

耦合步骤:对所述输入器件和输出器件进行耦合测试;

自动耦合判断步骤:若还有未完成耦合的元件,则选择一个未完成耦合的元件,获得其未经过耦合测试的输入器件和输出器件的坐标数据,返回执行所述耦合端移动步骤。

2.根据权利要求1所述的一种基于逻辑特征的自动耦合方法,其特征在于,所述对所述输入器件和输出器件进行耦合测试包括:所述输入耦合端和输出耦合端在与所述坐标数据对应的位置附近扫描光功率,记录最大光功率位置的坐标信息;

在返回执行所述耦合端移动步骤之前,还包括:

修正坐标获取步骤:以所述最大光功率位置为基准,根据所述未经过耦合测试的输入器件和输出器件与上一次耦合的输入器件和输出器件的坐标数据变化量,获得用于移动所述输入耦合端和输出耦合端的输入器件和输出器件的坐标数据。

3.根据权利要求1所述的一种基于逻辑特征的自动耦合方法,其特征在于,所述对所述输入器件和输出器件进行耦合测试包括:所述输入耦合端在与所述输入器件的坐标数据对应的位置附近移动,所述输出耦合端在与所述输出器件的坐标数据对应的位置检测电学信号,记录最佳电学信号位置的输入器件坐标信息;

在返回执行所述耦合端移动步骤之前,还包括:

修正坐标获取步骤:以所述最佳电学信号位置为基准,根据所述未经过耦合测试的输入器件与上一次耦合的输入器件的坐标数据变化量,获得用于移动所述输入耦合端的输入器件的坐标数据。

4.根据权利要求1所述的一种基于逻辑特征的自动耦合方法,其特征在于:

所有输入器件均朝向芯片一侧,所有输出器件均朝向芯片另一侧。

5.根据权利要求1所述的一种基于逻辑特征的自动耦合方法,其特征在于:

所述元件识别信息,是额外添加于器件的用来标记所属元件的特征参数,或是将同一元件的所有器件都纳入同一个cell中的所述cell的识别信息。

6.根据权利要求1所述的一种基于逻辑特征的自动耦合方法,其特征在于,在所述特征提取步骤之前,还包括:

在芯片的版图设计文件中,为所有输入器件和输出器件添加元件识别信息和输入输出信息。

7.一种自动耦合系统,其特征在于,包括:

上位机,用于从芯片的版图设计文件中获得待耦合的输入器件和输出器件的元件识别信息、输入输出信息以及位置信息;还用于根据所述元件识别信息、输入输出信息以及位置信息,获得某一元件的输入器件和输出器件的坐标数据;还用于记录最大光功率位置的坐标信息;还用于在还有未完成耦合的元件时选择一个未完成耦合的元件,获得其未经过耦合测试的输入器件和输出器件的坐标数据;

耦合端夹持装置,用于控制输入耦合端和输出耦合端分别移动到所述芯片上与所述输入器件和输出器件的坐标数据对应的位置;还用于控制所述输入耦合端和输出耦合端在与所述坐标数据对应的位置附近移动;

光功率计,用于当所述输入耦合端和输出耦合端在与所述坐标数据对应的位置附近移动时扫描光功率;

所述上位机与所述耦合端夹持装置通信连接。

8.根据权利要求7所述的一种自动耦合系统,其特征在于:

所述上位机,还用于以所述最大光功率位置为基准,根据所述未经过耦合测试的输入器件和输出器件与上一次耦合的元件的输入器件和输出器件的坐标数据变化量,获得用于移动所述输入耦合端和输出耦合端的输入器件和输出器件的坐标数据。

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