[发明专利]位置测量装置在审
| 申请号: | 202010651930.9 | 申请日: | 2020-07-08 |
| 公开(公告)号: | CN112197727A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
| 发明(设计)人: | T.贝克;J.米特莱特纳;W.普克尔 | 申请(专利权)人: | 约翰内斯·海德汉博士有限公司 |
| 主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;G01D5/347;B23Q17/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 梁冰;司昆明 |
| 地址: | 德国特劳*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 位置 测量 装置 | ||
1.一种用于测量两个能够相对于彼此运动的物体在进给方向(X)上和在另外的自由度(Y、Z、RX、RY、RZ)上的相对位置的位置测量装置,该位置测量装置具有一个在所述进给方向(X)上纵向延伸的、带有测量刻度(T11-T26)的承载本体(1)并且具有一个能够相对于其运动的、带有多个用于对所述测量刻度(T11-T26)进行扫描的扫描单元(A11-A26)的扫描构件组(2),其特征在于,
所述承载本体(1)的至少三个表面(O1-O4)分别承载第一测量刻度(T11-T16)和第二测量刻度(T21-T26),其中,所述第一测量刻度(T11-T16)和所述第二测量刻度(T21-T26)分别具有刻度线的序列,并且所述第一测量刻度(T11-T16)的刻度线相对于所述第二测量刻度(T21-T26)的刻度线倾斜;用于在扫描位置处扫描相应的测量刻度(T11-T26)的扫描单元(A11-A26)中的至少一个配属于所述第一测量刻度(T11-T16)中的每个和所述第二测量刻度(T21-T26)中的每个,其中,这两个扫描单元(A11-A26)如此布置且这两个测量刻度(T11-T26)的刻度线如此相对于彼此倾斜,使得垂直平面在测量刻度(T11-T26)的相应的刻度线的方向上通过分别配属于所述表面(O1-O4)之一的两个扫描单元(A11-A26)的扫描位置具有共同的相交轴线(S1-S6),并且如此得到的三根相交轴线(S1-S6)延伸穿过共同的点(P)。
2.根据权利要求1所述的位置测量装置,其中,所述承载本体(1)的至少三个表面(O1-O4)和所述测量刻度(T21-T26)和所述扫描单元(A11-A26)如此布置和构造,使得所述扫描构件组(2)相对于所述承载本体(1)的位置能够在六个自由度(X、Y、Z、RX、RY、RZ)中确定。
3.根据权利要求1所述的位置测量装置,其中,所述承载本体(1)是棱柱体,并且至少三个表面(O1-O4)是棱柱体的外周面。
4.根据权利要求3所述的位置测量装置,其中,所述承载本体(1)是平行六面体。
5.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,所述共同的点(P)位于所述承载本体(1)的横截面中心。
6.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,所述表面(O1-O4)的第一测量刻度(T11-T16)和第二测量刻度(T21-T26)分别彼此相邻地沿着垂直于进给方向(X)的方向布置。
7.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,第一测量刻度(T11-T14、T16)的刻度线相对于进给方向(X)偏离0°地倾斜,并且第二测量刻度(T21-T24、T26)的刻度线相对于进给方向(X)同样偏离0°地倾斜。
8.根据权利要求7所述的位置测量装置,其中,所述第一测量刻度(T11-T14、T16)的刻度线和所述第二测量刻度(T21-T24、T26)的刻度线在数值上相对于进给方向(X)倾斜相同的角度。
9.根据权利要求8所述的位置测量装置,其中,所述第一测量刻度(T11-T14、T16)的刻度线相对于进给方向(X)倾斜+45°,并且所述第二测量刻度(T21-T24、T26)的刻度线相对于进给方向(X)倾斜-45°。
10.根据前述权利要求1至7中任一项所述的位置测量装置,其中,所述第一测量刻度(T15)的刻度线相对于进给方向(X)倾斜90°。
11.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,所述测量刻度(T11-T26)被构造为能够光学扫描的。
12.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,所述测量刻度(T11-T15、T22-T25)是增量刻度。
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