[发明专利]位置测量装置在审

专利信息
申请号: 202010651930.9 申请日: 2020-07-08
公开(公告)号: CN112197727A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: T.贝克;J.米特莱特纳;W.普克尔 申请(专利权)人: 约翰内斯·海德汉博士有限公司
主分类号: G01B21/04 分类号: G01B21/04;G01D5/347;B23Q17/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 梁冰;司昆明
地址: 德国特劳*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 位置 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种用于测量两个能够相对于彼此运动的物体在进给方向(X)上和在另外的自由度(Y、Z、RX、RY、RZ)上的相对位置的位置测量装置,该位置测量装置具有一个在所述进给方向(X)上纵向延伸的、带有测量刻度(T11-T26)的承载本体(1)并且具有一个能够相对于其运动的、带有多个用于对所述测量刻度(T11-T26)进行扫描的扫描单元(A11-A26)的扫描构件组(2),其特征在于,

所述承载本体(1)的至少三个表面(O1-O4)分别承载第一测量刻度(T11-T16)和第二测量刻度(T21-T26),其中,所述第一测量刻度(T11-T16)和所述第二测量刻度(T21-T26)分别具有刻度线的序列,并且所述第一测量刻度(T11-T16)的刻度线相对于所述第二测量刻度(T21-T26)的刻度线倾斜;用于在扫描位置处扫描相应的测量刻度(T11-T26)的扫描单元(A11-A26)中的至少一个配属于所述第一测量刻度(T11-T16)中的每个和所述第二测量刻度(T21-T26)中的每个,其中,这两个扫描单元(A11-A26)如此布置且这两个测量刻度(T11-T26)的刻度线如此相对于彼此倾斜,使得垂直平面在测量刻度(T11-T26)的相应的刻度线的方向上通过分别配属于所述表面(O1-O4)之一的两个扫描单元(A11-A26)的扫描位置具有共同的相交轴线(S1-S6),并且如此得到的三根相交轴线(S1-S6)延伸穿过共同的点(P)。

2.根据权利要求1所述的位置测量装置,其中,所述承载本体(1)的至少三个表面(O1-O4)和所述测量刻度(T21-T26)和所述扫描单元(A11-A26)如此布置和构造,使得所述扫描构件组(2)相对于所述承载本体(1)的位置能够在六个自由度(X、Y、Z、RX、RY、RZ)中确定。

3.根据权利要求1所述的位置测量装置,其中,所述承载本体(1)是棱柱体,并且至少三个表面(O1-O4)是棱柱体的外周面。

4.根据权利要求3所述的位置测量装置,其中,所述承载本体(1)是平行六面体。

5.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,所述共同的点(P)位于所述承载本体(1)的横截面中心。

6.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,所述表面(O1-O4)的第一测量刻度(T11-T16)和第二测量刻度(T21-T26)分别彼此相邻地沿着垂直于进给方向(X)的方向布置。

7.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,第一测量刻度(T11-T14、T16)的刻度线相对于进给方向(X)偏离0°地倾斜,并且第二测量刻度(T21-T24、T26)的刻度线相对于进给方向(X)同样偏离0°地倾斜。

8.根据权利要求7所述的位置测量装置,其中,所述第一测量刻度(T11-T14、T16)的刻度线和所述第二测量刻度(T21-T24、T26)的刻度线在数值上相对于进给方向(X)倾斜相同的角度。

9.根据权利要求8所述的位置测量装置,其中,所述第一测量刻度(T11-T14、T16)的刻度线相对于进给方向(X)倾斜+45°,并且所述第二测量刻度(T21-T24、T26)的刻度线相对于进给方向(X)倾斜-45°。

10.根据前述权利要求1至7中任一项所述的位置测量装置,其中,所述第一测量刻度(T15)的刻度线相对于进给方向(X)倾斜90°。

11.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,所述测量刻度(T11-T26)被构造为能够光学扫描的。

12.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量装置,其中,所述测量刻度(T11-T15、T22-T25)是增量刻度。

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