[发明专利]一种智能剩磁检测试验装置

权利要求书

1.一种智能剩磁检测试验装置，该装置包括单片机（1）、推拉车床（2）、磁传感器（3）、A/D转换器（4）、扩展存储器（5）、复位中断控制器（6），其特征在于：还包括励磁及退磁系统，磁传感器（3）的检测信号输出端口与A/D转换器（4）的检测信号输入端口相连，A/D转换器（4）的检测信号输出端口与单片机（1）的检测信号输入端口相连，单片机（1）的P2.5端口与励磁及退磁系统的信号输入口相连，单片机（1）的复位信号输入端口与复位中断控制器（6）的复位信号输出端口相连，单片机（1）的中断信号输入端口与外部复位中断控制器（6）的中断信号输出端口相连，单片机（1）的存储信号输出端口与外接扩展存储器（5）的存储信号输入端口相连，励磁及退磁系统与磁传感器（3）分别安装在推拉车床（2）上部；

励磁及退磁系统由D/A转化器（7）、信号放大器（8）、滑动变阻器（9）、电流表（10）、磁激励线圈（11）组成，D/A转化器（7）的输入口与单片机（1）的P2.5口相连，输出口与信号放大器（8）的输入口相连；信号放大器（8）的输出口经过滑动变阻器（9）和电流表（10）与磁激励线圈（11）相连，磁激励线圈（11）固定在推拉车床（2）的中部固定结构上，检测的样品放置于推拉车床（2）的前后两侧可移动结构上；

单片机（1）的P 0 端口与A/D转换器（4）的数据接入端口D端口相连，扩展存储器（5）的74LS373芯片的A 0 、A 1 、A 2 端口分别与A/D转换器（4）的A、B、C端口对应相连；单片机（1）的13脚与第二非门输出端相连，第二非门输入端与A/D转换器（4）的EOC端口相连，单片机（1）的16脚与第一与门的第一输入端相连，单片机（1）的21脚分别与第一与门的第二输入端、第二与门的第一输入端相连，单片机（1）的17脚与第二与门的第二输入端相连；第一与门的输出端与第三非门输入端相连，第三非门输出端分别与A/D转换器（4）的ST端口、ALE端口相连；第二与门的输出端与第四非门输入端相连，第四非门输出端与A/D转换器（4）的OE端口相连；单片机（1）的30脚通过取二分之一值电路与A/D转换器（4）的CLK端口相连；A/D转换器（4）的IN0口作为信号接入口与霍尔传感器C口相连，霍尔传感器A口接电源，霍尔传感器B口接地，A/D转换器（4）的IN1口作为信号接入口与箔式应变片电桥的信号输出口相连。

2.根据权利要求1所述的一种智能剩磁检测试验装置，其特征在于：单片机（1）上设置三个开关K1、K2、K3，分别控制系统的复位、数据采集、测试材料的励磁与退磁；复位系统采用开关K1外接一个电容C1并联后与单片机（1）RES口相连，外接一个电阻R1接地；开关K2外接一个电容C2并联后与单片机（1）INT0口相连，外接一个电阻R2接地；K3开关外接一个电容C3并联后与单片机（1）的INT1口相连。

3.根据权利要求1所述的一种智能剩磁检测试验装置，其特征在于：电容C1、C2和C3均为10uF，电阻R1、R2和R3均为10K。

4.根据权利要求3所述的一种智能剩磁检测试验装置，其特征在于：扩展存储器（5）包括74LS373芯片和HM628128RAM芯片，单片机（1）的32、33、34、35、36、37、38、39脚分别与74LS373的芯片18、17、14、13、8、7、4、3脚对应相连，单片机（1）的32、33、34、35、36、37、38、39脚分别与HM628128RAM芯片的21、20、19、18、17、15、14、13脚对应相连，74LS373的芯片19、16、15、12、9、6、5、2脚分别与HM628128RAM芯片的5、6、7、8、9、10、11、12脚对应相连，单片机（1）的17、18脚分别与HM628128RAM芯片的24、29对应相连；单片机（1）的1、2脚分别与HM628128RAM芯片的2、31脚对应相连，单片机（1）的27、26、25、24、23、22、21分别与HM628128RAM芯片的3、28、4、25、23、26、27脚对应相连；HM628128RAM芯片的22脚与译码电路相连；单片机（1）的30脚与74LS373芯片的11脚相连。