[发明专利]一种基于随机两步相移的面形检测方法有效
| 申请号: | 202010618877.2 | 申请日: | 2020-06-30 |
| 公开(公告)号: | CN111707216B | 公开(公告)日: | 2021-07-02 |
| 发明(设计)人: | 朱学亮;李靓;田爱玲;王红军;刘丙才;万鑫 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 李凤鸣 |
| 地址: | 710032 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 随机 相移 检测 方法 | ||
1.一种基于随机两步相移的面形检测方法,其特征在于:包括下述步骤:
(1)图像采集:通过搭建干涉测试光路,获取随机两步的相移干涉图;
(2)通过随机两步相移算法,对两幅相移干涉图I1、I2进行相位解调:首先建立P、Q、R的矩阵,设定K值,建立F(l,x,y)的矩阵,利用最小二乘矩阵求γ(l)的值;求解相移量δK和背景光I0K(x,y),并进行待测相位Φ(x,y)的求解;
(3)对求解后的待测相位进行相位解包,并用zernike多项式进行波面拟合求解待测面形;
所述步骤(2)的具体步骤如下:
①根据干涉图I1、I2的光强表达式消去待测相位,可以得到I1、I2之间新的表达式:
0=P(x,y)-[I'2(x,y)sin2(δ)-2I02(x,y)(1-cosδ)]-Q(x,y)I0(x,y)(1-cosδ)-R(x,y)cosδ
其中,P=I12+I22,Q=2[I1+I2],R=2I1I2,I0(x,y)为背景光,I’(x,y)为调制度;
根据如上所示P、Q、R与I1、I2之间关系,利用采集到的相移干涉图I1、I2,建立P、Q、R的矩阵,并设定一个K值;
②根据设定的K值,利用K阶二维多项式对背景光与调制度进行拟合,再将此K阶二维多项式转换成一维多项式,并代入I1、I2之间新的表达式中,可以得到单个像素误差表达式:
其中,L0=(K+1)2,L1=(2K+1)2,L=L0+L1,γ(l)表示I1、I2之间新的表达式中第二项的多项式系数,α(l)表示拟合背景光的多项式系数;
根据单个像素误差表达式,可以得到F(l,x,y)与K值的关系式,建立F(l,x,y)的矩阵,其中(x,y)表示相移干涉图的像素坐标;
③利用如下所示的最小二乘矩阵求γ(l)的值;
其中,
④利用步骤③求得的γ(l)的值实现相移量δK和背景光I0K(x,y)的求解;
δK=arccos[γ(L)]
⑤利用步骤④求得的相移量δK和背景光I0K(x,y)的值进行待测相位Φ(x,y)的求解:
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