[发明专利]一种后处理结构故障诊断的方法及后处理结构

权利要求书

1.一种后处理结构故障诊断的方法，该后处理结构包括颗粒物捕捉器(1)，与所述颗粒物捕捉器(1)通过排气管(2)连通的选择性催化还原器(3)；其特征在于，其包括以下步骤：

在所述排气管(2)上开设一检查口(20)；

在所述检查口(20)上设一连接筒(5)，以使所述连接筒(5)的检测通道(50)与所述排气管(2)相连通；

在所述检测通道(50)内植入一检测装置(4)，以使所述检测装置(4)朝向所述选择性催化还原器(3)；

通过所述检测装置(4)检测该选择性催化还原器(3)，以判断所述选择性催化还原器(3)是否发生结晶堵塞；

所述检测装置(4)包括：

内窥镜，其伸入所述检测通道(50)内，并用于拍摄所述选择性催化还原器(3)内部结构的照片；

显示器，其与所述内窥镜相连，并用于显示所述内窥镜拍摄的照片，以供检修人员判断所述选择性催化还原器(3)是否发生结晶堵塞。

2.如权利要求1所述的后处理结构故障诊断的方法，其特征在于，该方法还包括以下步骤：

检测所述颗粒物捕捉器(1)是否堵塞。

3.如权利要求2所述的后处理结构故障诊断的方法，其特征在于，检测所述颗粒物捕捉器(1)是否堵塞，具体包括以下步骤：

在所述颗粒物捕捉器(1)的两端连接压差传感器(6)，以检测所述颗粒物捕捉器(1)的两端的压力差；

根据所述压力差与预设的压力差的关系，判断所述颗粒物捕捉器(1)是否堵塞。

4.如权利要求1所述的后处理结构故障诊断的方法，其特征在于，检测选择性催化还原器(3)是否发生结晶堵塞之后，还包括以下步骤：

取出所述检测装置(4)；

在所述连接筒(5)上连接密封件(7)，以封堵所述检测通道(50)。

5.如权利要求4所述的后处理结构故障诊断的方法，其特征在于，所述密封件(7)为螺栓，所述螺栓螺接于所述连接筒(5)内，或者，所述密封件(7)为套筒，所述套筒通过卡箍套设于所述连接筒(5)上，或者所述检测装置(4)螺接于所述连接筒(5)内。

6.如权利要求1所述的后处理结构故障诊断的方法，其特征在于，所述连接筒(5)倾斜设置，以使所述连接筒(5)的轴线与所述选择性催化还原器(3)的轴线呈钝角。

7.一种后处理结构，其特征在于，其包括：

颗粒物捕捉器(1)；

选择性催化还原器(3)，其与所述颗粒物捕捉器(1)之间通过排气管(2)连通；所述排气管(2)上开设有检查口(20)；

连接筒(5)，其内开设有贯穿该连接筒(5)的检测通道(50)，所述连接筒(5)设于所述检查口(20)上，以使所述检测通道(50)与所述排气管(2)相连通；

密封件(7)，其与所述连接筒(5)连接，以封堵所述检测通道(50)；

该后处理结构还包括检测装置(4)，所述检测装置(4)与所述密封件(7)择一地与所述连接筒(5)连接；

所述检测装置(4)包括：

内窥镜，其伸入所述检测通道(50)内，并用于拍摄所述选择性催化还原器(3)内部结构的照片；

显示器，其与所述内窥镜相连，并用于显示所述内窥镜拍摄的照片，以供检修人员判断所述选择性催化还原器(3)是否发生结晶堵塞。