[发明专利]用于1064纳米波段的全介质反射式光谱合束光栅在审

专利信息
申请号: 202010580234.3 申请日: 2020-06-23
公开(公告)号: CN111769425A 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 曹红超;晋云霞;邵建达;孔钒宇;张益彬;王勇禄 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: H01S3/00 分类号: H01S3/00;H01S3/10;H01S3/101;G02B5/18
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 1064 纳米 波段 介质 反射 光谱 光栅
【权利要求书】:

1.一种用于1064纳米波段的全介质反射式光谱合束光栅,其特征在于该光栅由上而下依次是三明治结构光栅层、位相匹配层和高反射层,所述的三明治结构光栅层由第一低折射率光栅层(7)、高折射率光栅层(6)和第二低折射率光栅层(5)构成,所述的第一低折射率光栅层(7)、高折射率光栅层(6)的光栅沟槽具有梯形槽型结构,所述的第二低折射率光栅层(5)的光栅沟槽具有矩形结构,所述的位相匹配层由高折射率材料层(4)和低折射率材料层(3)组成,所述的高反射层由多层介质反射膜(2)和光栅基板(1)组成;该光栅的周期Λ为850~900纳米、刻蚀深度(h1+h2+h3)为800纳米~1220纳米,w为光栅顶部的宽度,光栅顶部的占宽比w/Λ为0.24~0.35。

2.根据权利要求1所述的用于1064纳米波段的全介质反射式光谱合束光栅,其特征在于所述的顶部光栅层和位相匹配层使用的低折射率材料为SiO2;所述的高折射率材料为HfO2或Ta2O5

3.根据权利要求1或2所述的用于1064纳米波段的全介质反射式光谱合束光栅,其特征在于所述的高反射层的结构为:S(HL)^mH,其中S为低膨胀、高热导光栅光栅基板(1),主要为碳化硅、金刚石或蓝宝石材料;所述的H和L分别代表多层介质反射膜(2)的高折射率材料和低折射率材料的光学厚度λr/4,(λr为参考波长);m代表膜层周期数。

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