[发明专利]一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供了一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质；方法包括：获取所述光纤的事件数据和历史故障维护数据；将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型，得到所述光纤的质量评分信息和故障预警信息，其中，所述故障预警信息，至少用于指示所述光纤发生故障的位置；所述质量评分信息，用于提供是否对光纤维护提供参考依据。

技术领域

本发明涉及光缆质量分析技术领域，尤其涉及一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

OTDR(Optical Time Domain Reflectometer，光时域反射仪)即光时域反射仪，通过发射光脉冲到光纤内，利用瑞利散射和菲涅尔反射，在OTDR端口接收返回的曲线信息对链路状态进行监测。当光脉冲在光纤内传输时，会由于光纤本身的性质、连接器、接合点、弯曲或其它类似的事件而产生散射、反射。OTDR被广泛应用于光缆维护行业，维护人员通过采集OTDR测试曲线，来分析光纤质量情况。

通常的分析方式是通过OTDR测试空余光纤，搜集测试曲线，把测试曲线导入至专业分析软件，解析曲线的长度、平均衰耗、全程衰耗及事件点损耗，根据以上测试结果分析光纤质量好坏。一条缆段包含多条纤芯，判定缆段质量状况，需要分析多条纤芯，由维护人员在excel中记录多个纤芯测试结果，然后人工分析。光缆数据量庞大，上千万的光缆数据，靠人工分析，做到准确详细，几乎是不可能的。

近年来，有厂家开发了配套的OTDR管理软件，可以通过软件的固定算法来替代部分人工分析，但是通常软件只能分析厂家自己生产的OTDR设备采集的曲线，不能在市场形成通用。

由上可见，当前的光缆质量分析方式主要依靠人工或单一的软件公式分析，效率低下、准确率低，且无法分析出光缆质量发展趋势和预测光缆未来故障发生概率。

发明内容

本发明实施例提供一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质。

本发明实施例的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供一种光纤质量分析方法，包括：

获取所述光纤的事件数据和历史故障维护数据；

将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型，得到所述光纤的质量评分信息和故障预警信息，其中，所述故障预警信息，至少用于指示所述光纤发生故障的位置；所述质量评分信息，用于提供是否对光纤维护提供参考依据。

上述方案中，将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型，得到所述光纤的质量评分信息，包括：

将所述光纤的事件数据和历史故障维护数据输入到第一神经网络，确定所述光纤的质量评分信息。

上述方案中，所述将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型，得到所述光纤的故障预警信息，包括：

将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入到支持向量机模型中，得到所述光纤的故障率；

将所述光纤的故障率输入到第二神经网络，确定所述光纤的故障预警信息。

上述方案中，所述将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入到支持向量机模型中，得到所述光纤的故障率，包括：

所述支持向量机模型根据所述事件数据中的位置信息和所述历史故障维护数据中的历史故障位置信息，分段确定所述光纤的各个分段的故障率；

所述将所述光纤的故障率输入到第二神经网络，确定所述光纤的故障预警信息，包括：

将各个分段的故障率输入到所述第二神经网络，得到所述光纤的故障预警信息。

上述方案中，所述将所述光纤的故障率输入到第二神经网络，确定所述光纤的故障预警信息，包括：