[发明专利]量测装置及量测方法有效

专利信息
申请号: 202010545961.6 申请日: 2020-06-16
公开(公告)号: CN111805301B 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 孙正一;陈昶升;杨勇;曹伟涛;谢松臻 申请(专利权)人: 深圳市裕展精密科技有限公司
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 陈敬华
地址: 518109 广东省深圳市观澜富士康鸿观科技园B区厂*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种量测装置,包括:

通信器,用于:

接收来自第一量测机检测工件形成的第一检测集;

接收来自第二量测机检测所述工件形成的第二检测集,所述第二量测机的精度高于所述第一量测机的精度;

处理器,耦接所述通信器,用于:

对所述第一检测集进行数据清洗;

根据数据清洗后的所述第一检测集与所述第二检测集,形成校正值;

所述通信器进一步用于:

将所述校正值反馈至所述第一量测机,以校正形成所述第一检测集时的误差。

2.如权利要求1所述的量测装置,其中:

所述处理器,进一步用于:

对所述第一检测集进行数据清洗,以形成第一检测值;

判断所述第一检测值处于预设阈值范围外;

所述通信器,进一步用于接收来自所述第一量测机检测所述工件形成的第三检测集;

对所述第三检测集进行数据清洗,以形成第三检测值;

判断所述第三检测值处于所述预设阈值范围内;

根据所述第三检测集和第二检测集,形成所述校正值。

3.如权利要求1所述的量测装置,其中:

所述处理器,进一步用于:

对所述第一检测集进行数据清洗,以形成第一检测值;

判断所述第一检测值处于预设阈值范围外;

去除所述第一检测集中处于所述预设阈值范围外的部分,形成目标检测集;

对所述目标检测集进行加权平均计算,以形成修正检测值;

对所述第二检测集进行加权平均计算,以形成第二检测值;

根据所述修正检测值和所述第二检测值,形成所述校正值。

4.如权利要求1所述的量测装置,其中所述处理器,进一步用于:

对所述第一检测集进行数据清洗及归一化处理,以形成第四检测集;

根据所述第四检测集与所述第二检测集,形成所述校正值。

5.如权利要求4所述的量测装置,其中所述处理器,进一步用于:

根据所述第四检测集的均值与所述第二检测集的均值的差值,形成所述校正值。

6.一种量测方法,包括:

接收来自第一量测机检测工件形成的第一检测集;

接收来自第二量测机检测所述工件形成的第二检测集,所述第二量测机的精度高于所述第一量测机的精度;

对所述第一检测集进行数据清洗;

根据数据清洗后的所述第一检测集与所述第二检测集,形成校正值;

将所述校正值反馈至所述第一量测机,以校正形成所述第一检测集时的误差。

7.如权利要求6所述的量测方法,其中形成所述校正值的步骤,包括:

对所述第一检测集进行数据清洗,以形成第一检测值;

判断所述第一检测值处于预设阈值范围外;

接收来自所述第一量测机检测所述工件形成的第三检测集;

对所述第三检测集进行数据清洗,以形成第三检测值;

判断所述第三检测值处于所述预设阈值范围内;

根据所述第三检测集和第二检测集,形成所述校正值。

8.如权利要求6所述的量测方法,其中形成所述校正值的步骤,包括:

对所述第一检测集进行数据清洗,以形成第一检测值;

判断所述第一检测值处于预设阈值范围外;

去除所述第一检测集中处于所述预设阈值范围外的部分,形成目标检测集;

对所述目标检测集进行加权平均计算,以形成修正检测值;

对所述第二检测集进行加权平均计算,以形成第二检测值;

根据所述修正检测值及所述第二检测值,形成所述校正值。

9.如权利要求6所述的量测方法,其中形成所述校正值的步骤,包括:

对所述第一检测集进行数据清洗及归一化处理,以形成第四检测集;

根据所述第四检测集与所述第二检测集,形成所述校正值。

10.如权利要求9所述的量测方法,其中形成所述校正值的步骤,进一步包括:

根据所述第四检测集的均值与所述第二检测集的均值的差值,形成所述校正值。

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