[发明专利]一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法

权利要求书

1.一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)利用有限元仿真法得到干涉技术识别微小缺陷机理；

所述步骤(1)中，有限元仿真过程中，超声波经过微小缺陷之后得到的瞬态应力图和时域波形图和未经过缺陷的瞬态应力图和时域波形图对比显示，入射波和衍射波发生干涉作用之后产生新的干涉波列，位于入射波尾部，此干涉波列包含缺陷信息，用于识别微小缺陷；

(2)依据仿真得到的微小缺陷干涉机理实现超声扫描信号获取及微小缺陷特征信息获取和识别；

所述步骤(2)中，将完整采集的包含干涉波列的超声底波波列展开，闸门框选住新产生的干涉波列，并用幅值成像法和深度成像法进行整个扫查区域成像，一次性扫查识别微小缺陷；

(3)制作用以验证干涉法识别微小缺陷能力的微小缺陷试块；

(4)对干涉法检测微小缺陷的工艺参数最优化。

2.根据权利要求1所述的一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法，其特征在于，所述步骤(3)中，微小缺陷试块为圆柱形航空铝合金微小缺陷试块，厚度为5mm～80mm，端面直径为10～80mm。

3.根据权利要求2所述的一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法，其特征在于，圆柱形航空铝合金微小缺陷试块的材料成分组成为硅Si：0.4％；铁Fe:0.40％；铜Cu：1.7％；锰Mn：0.30％；镁Mg：3.0％；铬Cr：0.4％；锌Zn：4.8％；钛Ti：0.30％；铝Al：余量88.7％。

4.根据权利要求3所述的一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法，其特征在于，圆柱形航空铝合金微小缺陷试块底部端面包含Ф0.1mm、Ф0.2mm、Ф0.3mm、Ф0.4mm平底孔缺陷4个，孔深度1.6mm，埋深在5mm～80mm。

5.根据权利要求1所述的一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法，其特征在于，所述步骤(4)中，干涉法检测微小缺陷的工艺参数选用的检测探头为频率为5Mhz～15Mhz，晶片尺寸范围为直径12.7mm～25.4mm，水中焦距15mm～330mm的超声水浸聚焦探头。

6.根据权利要求5所述的一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法，其特征在于，所述步骤(4)中，干涉法检测微小缺陷的工艺参数选用的扫查步进为0.2mm，扫查速度为20mm/s。