[发明专利]一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测方法

说明书

本发明公开了一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法，包括引脚1、MCU_SCL、MCU_SDA、MCU_GND、引脚Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD，所述引脚1和引脚Ⅴ短接，使其成为改进后的测试版MCU_VDD与TP_VD连接线路中的一部分，待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入测试版后电源的电流方向如下：MCU_VDD→测试版的8脚→防拆解绕线B端→防拆解绕线内部线路→防拆解绕线A端→测试版引脚Ⅰ→TP_VDD；进行防拆解绕线内部开路测试和短路测试，本发明通过将待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入优化后的测试版线路中，使其成为常规检测线路中电源线的一部分，无需通过万用表即可完成检测，提高了良品率和检测效率，适合广泛推广。

技术领域

本发明涉及电容式触摸屏线路板防拆解绕线测试方法技术领域，具体为一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测方法。

背景技术

传统检测FPC(柔性线路板)上防拆解的绕线线路是否存在短路、开路故障时，是将FPC接入传统测试版的线路中，通过人工使用万用表的二极管档去测量防拆解绕线的导通性，在FPC量产的时候需要增加一道检测防拆解绕线是否有开路、短路的工序，此时需要用万用表的表笔去扎FPC上的引脚，此种检测手段会造成FPC外观不良，从而导致良品率低、同时增加了检测工序从而影响检测效率。

本发明的目的在于设计一种不增加测试人员和测试装置，在不影响原有测试效果的情况下完成对FPC防拆解绕线短路、开路高效率检测的一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测方法，使用优化后的测试版端，该优化后的测试版端具有引脚Ⅰ、MCU_SDA、MCU_SCL、MCU_GND、引脚Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD，其特征在于：所述引脚Ⅰ、MCU_SDA、MCU_SCL、MCU_GND、引脚Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD从上至下依次排列，所述引脚Ⅰ和引脚Ⅴ短接，包括以下步骤：

步骤一：对外接测试版端的接线进行优化：将测试版端的引脚Ⅰ与引脚Ⅴ短接，MCU_VDD引脚接到防拆解绕线B端；

步骤二：将待检测的电容触摸屏防拆解绕线接入优化后的测试版线路中，使其成为优化后的测试版MCU_VDD与TP_VDD连接线路中的一部分，待检测的电容触摸屏防拆解绕线接入测试版后电源的电流方向如下：MCU_VDD→防拆解绕线B端→防拆解绕线内部线路→防拆解绕线A端→引脚Ⅰ→TP_VDD，其中TP_VDD为防拆解绕线的电源引脚；

步骤三：进行防拆解绕线内部开路测试：

当防拆解绕线内部线路开路，MCU_VDD无法与TP_VDD连接，触摸屏上电异常，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，反之则正常，防拆解绕线内部开路测试完成；

步骤四：进行防拆解绕线内部与TP_GND短路测试：

当防拆解绕线内部与TP_GND短路，其中TP_GND为防拆解绕线的接地引脚，即MCU_VDD与TP_GND短路，其中即TP_GND＝MCU_GND，触摸屏上电异常，测试版MCU提示电流过大，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，防拆解绕线内部短路检测完成。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、本发明通过将待检测的电容触摸屏防拆解绕线接入优化后的测试版线路中即可完成检测，无需通过万用表的表笔去接触FPC上的引脚，因此规避了因为万用表扎刺导致的FPC外观不良状况，提高了良品率；