[发明专利]一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测方法

权利要求书

1.一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测方法，使用优化后的测试版端，该优化后的测试版端具有引脚Ⅰ(1)、MCU_SDA(2)、MCU_SCL(3)、MCU_GND(4)、引脚Ⅴ(5)、MCU_INT(6)、MCU_RST(7)、MCU_VDD(8)，所述引脚Ⅰ(1)、MCU_SDA(2)、MCU_SCL(3)、MCU_GND(4)、引脚Ⅴ(5)、MCU_INT(6)、MCU_RST(7)、MCU_VDD(8)从上至下依次排列，所述引脚Ⅰ(1)和引脚Ⅴ(5)短接，其特征在于：包括以下步骤：

步骤一：对外接测试版端的接线进行优化：将测试版端的引脚Ⅰ与引脚Ⅴ短接，MCU_VDD(8)引脚接到防拆解绕线B端；

步骤二：将待检测的电容触摸屏防拆解绕线接入优化后的测试版线路中，使其成为优化后的测试版MCU_VDD与TP_VDD连接线路中的一部分，待检测的电容触摸屏防拆解绕线接入测试版后电源的电流方向如下：MCU_VDD→防拆解绕线B端→防拆解绕线内部线路→防拆解绕线A端→引脚Ⅰ→TP_VDD，其中TP_VDD为防拆解绕线的电源引脚；

步骤三：进行防拆解绕线内部开路测试：

当防拆解绕线内部线路开路，MCU_VDD无法与TP_VDD连接，触摸屏上电异常，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，反之则正常，防拆解绕线内部开路测试完成；

步骤四：进行防拆解绕线内部与TP_GND短路测试：

当防拆解绕线内部与TP_GND短路，其中TP_GND为防拆解绕线的接地引脚，即MCU_VDD与TP_GND短路，其中TP_GND＝MCU_GND，触摸屏上电异常，测试版MCU提示电流过大，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，防拆解绕线内部短路检测完成。