[发明专利]焊层寿命失效的测试方法

权利要求书

1.一种焊层寿命失效的测试方法，其特征在于，包括：

对标定功率模块中的同一预设位置处的全新碳化硅器件和失效碳化硅器件分别进行升温降温操作，获取所述全新碳化硅器件和所述失效碳化硅器件在降温过程中的预设时间的失效结温差值；

对待测功率模块的所述预设位置处的碳化硅器件进行升温降温操作，获取使用前的碳化硅器件和使用过程中的碳化硅器件在降温过程中的所述预设时间的待测结温差值；

根据所述待测结温差值和所述失效结温差值确定所述待测功率模块中所述预设位置处的碳化硅器件的焊层是否失效。

2.根据权利要求1所述的焊层寿命失效的测试方法，其特征在于，所述获取所述全新碳化硅器件和所述失效碳化硅器件在降温过程中的预设时间的失效结温差值，具体包括：

获取所述标定功率模块的所述预设位置处的所述全新碳化硅器件在所述预设时间的全新结温值，以及所述标定功率模块的所述预设位置处的所述失效碳化硅器件在所述预设时间的失效结温值；

根据所述全新结温值和所述失效结温值确定所述失效结温差值。

3.根据权利要求2所述的焊层寿命失效的测试方法，其特征在于，所述获取所述标定功率模块的所述预设位置处的所述全新碳化硅器件在所述预设时间的全新结温值，以及所述标定功率模块的所述预设位置处的所述失效碳化硅器件在所述预设时间的失效结温值，具体包括：

获取所述标定功率模块的所述预设位置处的所述全新碳化硅器件的全新结温时间曲线，以及所述标定功率模块的所述预设位置处的所述失效碳化硅器件的失效结温时间曲线；

根据所述全新结温时间曲线获取所述预设时间的所述全新结温值；

根据所述失效结温时间曲线获取所述预设时间的所述失效结温值。

4.根据权利要求3所述的焊层寿命失效的测试方法，其特征在于，所述根据所述全新结温值和所述失效结温值确定所述失效结温差值，具体包括：

根据不同测温时间的所述全新结温值和不同测温时间的所述失效结温值，获取不同测温时间的所述全新结温值和所述失效结温值的差值；

根据所述不同测温时间的所述全新结温值和所述失效结温值的差值确定所述全新结温值和所述失效结温值的最大差值以及所述最大差值对应的测温时间；

所述最大差值对应的所述测温时间为所述预设时间。

5.根据权利要求3所述的焊层寿命失效的测试方法，其特征在于，所述获取所述标定功率模块的所述预设位置处的所述全新碳化硅器件的全新结温时间曲线，以及所述标定功率模块的所述预设位置处的所述失效碳化硅器件的失效结温时间曲线，具体包括：

分别获取多个测温时间下的所述标定功率模块的所述预设位置处的所述全新碳化硅器件的第一温度敏感参数值和所述标定功率模块的所述预设位置处的所述失效碳化硅器件的第二温度敏感参数值；

根据所述第一温度敏感参数值确定多个测温时间下的所述标定功率模块的所述预设位置处的所述全新碳化硅器件的多个第一结温值，根据所述第二温度敏感参数确定多个测温时间下的所述标定功率模块的所述预设位置处的所述失效碳化硅器件的多个第二结温值；

根据多个测温时间和多个所述第一结温值确定所述全新结温时间曲线，根据多个测温时间和多个所述第二结温值确定所述失效结温时间曲线。

6.根据权利要求3所述的焊层寿命失效的测试方法，其特征在于，所述获取所述标定功率模块的所述预设位置处的所述全新碳化硅器件的全新结温时间曲线，以及所述标定功率模块的所述预设位置处的所述失效碳化硅器件的失效结温时间曲线，具体包括：

分别获取多个测温时间下的所述标定功率模块的所述预设位置处的所述全新碳化硅器件的底板的多个第一底板温度，以及所述标定功率模块的所述预设位置处的所述失效碳化硅器件的底板的多个第二底板温度；

根据多个测温时间和多个所述第一底板温度确定所述全新结温时间曲线，根据多个测温时间和多个所述第二底板温度确定所述失效结温时间曲线。