[发明专利]硅片绒面的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种硅片绒面的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，该测试方法包括：获取制绒后硅片的制绒表面显微图像，并对制绒表面显微图像进行图像处理以得到制绒表面灰度图像；从制绒表面灰度图像中提取出单个绒面的绒面形状参数；统计处理绒面的绒面形状参数，确定得到制绒后硅片的绒面质量参数。本发明实施例，能够准确统计硅片绒面信息，量化统计硅片绒面情况，以此可以有效分析硅片绒面质量。

技术领域

本发明实施例涉及太阳能电池技术，尤其涉及一种硅片绒面的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术

常规的化石燃料日益消耗且造成环境污染，太阳能作为一种替代化石燃料的可持续绿色能源得到快速发展。目前，太阳能的主要利用方式为光伏发电，例如太阳能电池，而在所有太阳能电池中，硅太阳能电池是当前太阳能领域的主流，这是由于硅材料在地壳中有着极为丰富的储量，同时有着优异的电学性能和机械性能。显然，在光伏发电技术的发展方向中，提高硅太阳能电池的光电性能，将会成为硅太阳能电池的重点研究方向。

硅太阳能电池制备过程中必须对硅片进行制绒，其绒面均一性与绒面尺寸均直接影响太阳能电池的效率。不同的绒面尺寸对太阳能电池的效率有不同的影响，较小的绒面可以有效降低硅片的反射率，从而提高太阳能电池的短路电流，较大的绒面有利于后续工艺对绒面的钝化。因此，准确统计绒面情况对于改善制绒工艺，提高太阳能电池效率起着至关重要的作用。

然而，现有的硅片绒面统计过程较为主观，对改善制绒工艺的作用微乎其微。

发明内容

本发明实施例提供一种硅片绒面的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，以量化统计硅片绒面情况。

本发明实施例提供了一种硅片绒面的测试方法，包括：

获取制绒后硅片的制绒表面显微图像，并对所述制绒表面显微图像进行图像处理以得到制绒表面灰度图像；

从所述制绒表面灰度图像中提取出单个绒面的绒面形状参数；

统计处理所有绒面的绒面形状参数，确定得到所述制绒后硅片的绒面质量参数。

进一步地，对所述制绒表面显微图像进行图像处理以得到制绒表面灰度图像包括：

根据所述制绒表面显微图像中每个像素的初始灰度值，计算得到平均灰度值；

将所述制绒表面显微图像中初始灰度值高于所述平均灰度值的每个像素调节为第一灰度值且将其余每个像素调节为第二灰度值，以此得到所述制绒表面灰度图像，所述第一灰度值和所述第二灰度值的差值大于200。

进一步地，确定所述制绒表面显微图像中每个像素的初始灰度值之前，还包括：

对获取的所述制绒表面显微图像依次进行设置尺度、反相、调整对比度和平滑图像处理。

进一步地，从所述制绒表面灰度图像中提取出单个绒面的绒面形状参数包括：从所述制绒表面灰度图像中提取出每个连通区域并计算所述连通区域的绒面形状参数，其中，所述连通区域中的像素均为所述第一灰度值。

进一步地，统计处理所有绒面的绒面形状参数，确定得到所述制绒后硅片的绒面质量参数，包括：

统计所述第一灰度值的区域总面积S1和所述第二灰度值的区域总面积S2，按照B＝S1/(S1+S2)计算得到有效制绒密度B。

进一步地，所述绒面形状参数包括：绒面面积、绒面尺寸、矩形度、圆形度、椭圆度、费雷特直径、费雷特角和形心坐标中的至少一种。

进一步地，单晶硅片的单个绒面的绒面尺寸X为：S为该单个绒面的绒面面积；

多晶硅片的单个绒面的绒面尺寸X为：S为该单个绒面的绒面面积。