[发明专利]激光器bar条测试方法及设备

说明书

本发明提供了一种激光器bar条测试方法，包括：将bar条上料至供料装置；将bar条移动放置在测试平台，并将bar条固定在测试平台；利用测试平台将所述bar条运送到测试区域，使需要测试的激光器芯片处于测试区域的中心位置；对激光器芯片加电，人工判断bar条位置是否正确，激光器芯片加电是否成功；对激光器芯片进行liv测试和光谱测试；判断是否为bar条上的最后一颗激光器芯片；将bar条吸取放回至所述供料装置。本发明测试过程设计合理，测试精确度高，测试过程自动化程度高，降低了对操作人员的操作要求及劳动强度，有效提升了测试效率，实现了高效、高质、安全的激光器bar条测试。

技术领域

本发明涉及激光器bar条检测技术领域，特别涉及一种激光器bar条测试方法及设备。

背景技术

激光器bar条是由多个半导体单管并排形成的激光器单条，具有功率转换效率高、体积小等诸多优点，在泵浦固体激光器、光纤放大器、工业、激光医学、光存储、军事等领域呈现出良好的应用前景。

在激光器bar条的生产工艺中，激光器bar条在生产后需要模拟工作状态(一定温度和导电状态)来测试其参数，以往的测试过程中通常采用人工利用器件夹持激光器bar条，并手动对激光器bar条加电以模拟实际工作情况，并借助测试设备，如光谱测试仪器、电流测试仪器对其进行测试，但这种人工测试方式测试精度通常不高，同时由于激光器bar条体积较小，长度18mm，其宽度仅0.3mm左右，因此操作人员工作难度较高，工作量和劳动强度较大，同时由于测试流程较为复杂繁琐，人工操作极易出现误差从而导致测试偏差大，甚至由于人工操作错误造成元器件损坏进而影响bar条生产成品率从而提高生产成本。

发明内容

本发明提供了一种激光器bar条测试方法及设备，其目的是为了提高测试过程的自动化程度和检测精度，提升测试可靠性，减少原件损坏提高成品率，降低操作人员工作强度。

为了达到上述目的，本发明的实施例提供了一种激光器bar条测试方法，包括：

步骤一，将bar条上料至供料装置；

步骤二，从所述供料装置吸取一根所述bar条移动放置在测试平台，同时将所述bar条固定在所述测试平台；

步骤三，通过视觉识别利用所述测试平台将所述bar条从上料区域精确运送到测试区域，使所述bar条上需要测试的激光器芯片处于测试区域的中心位置；

步骤四，对所述bar条上需要测试的所述激光器芯片加电，人工判断所述bar条位置是否正确，所述激光器芯片加电是否成功，若不成功则返回步骤三；

步骤五，对所述激光器芯片进行liv测试，liv测试完成后对所述激光器芯片进行光谱测试；

步骤六，判断所述激光器芯片是否为所述bar条上的最后一颗激光器芯片，若不是最后一颗激光器芯片，则返回步骤三；

步骤七，通过所述测试平台将所述bar条从测试区域移动到上料区域，并将所述bar条吸取放回至所述供料装置。

其中，步骤三中通过视觉识别能够确认所述bar条上的首颗所述激光器芯片，后续未测试的所述激光器芯片的测试过程自动完成。

其中，步骤五中liv测试需要测试所述激光器芯片的光功率、电流和电压，光谱测试需要测试所述激光器芯片的光谱，所述激光器芯片通过积分球和光电探头测试光功率，通过电流表和电压表测试电流和电压，通过光谱仪测试光谱。

其中，所述积分球顶部设置有收光透镜，所述收光透镜连接有一光纤，所述光纤连通所述光谱仪，步骤五中将所述积分球竖直向下位移，进行光谱测试。

其中，在步骤四中对所述激光器芯片加电的同时，所述电流表和电压表被接入到了所述激光器芯片的加电回路中。