[发明专利]激光器bar条测试方法及设备有效

专利信息
申请号: 202010397364.3 申请日: 2020-05-12
公开(公告)号: CN111443272B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 段吉安;卢胜强;唐佳;徐聪 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01M11/02
代理公司: 长沙轩荣专利代理有限公司 43235 代理人: 王丹
地址: 410000 湖南*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 激光器 bar 测试 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种激光器bar条测试设备,其特征在于,包括:

底板、安装板、横梁架、bar条供给座、基板座、输送装置、加电装置、测试装置和识别装置;所述bar条供给座固定安装在所述安装板的一侧,所述bar条供给座的顶部活动地安装有bar条料盒,所述bar条料盒均匀设置有多个限位颗,相邻的所述限位颗之间的纵向间隙用于放置所述bar条用于放置bar条;所述基板座底部设置有一基板Y轴滑轨,所述基板座通过所述基板Y轴滑轨具有Y轴方向自由度,所述基板座安装在所述安装板的另一侧,所述基板座的顶部设置有基板,所述基板用于放置所述bar条,所述基板的底部设置有多个气孔,所述气孔通有负压用于吸附固定所述bar条;所述输送装置滑动地安装在所述横梁架上,所述输送装置具有吸附功能,所述输送装置用于将所述bar条在所述基板座和bar条供给座之间运输;所述加电装置用于向所述bar条上的激光器芯片供电;所述基板座用于为所述bar条提供测试场地;所述识别装置用于识别所述bar条的位置;所述基板具有加热功能,所述基板的底部设置有散热装置,所述基板的温度调节范围为20℃-120℃;

所述输送装置包括吸附装置、吸嘴X轴驱动器和吸嘴Z轴驱动器,所述吸附装置的底部设置有吸嘴,所述吸嘴通设负压,所述吸附装置通过所述吸嘴X轴驱动器和吸嘴Z轴驱动器具有X轴方向和Z轴方向自由度,所述吸嘴X轴驱动器通过一吸嘴X电机驱动,所述吸嘴Z轴驱动器通过一吸嘴Z电机驱动,所述吸嘴X轴驱动器固定安装在所述横梁架上,所述吸嘴Z轴驱动器沿竖直于水平面方向固定安装在所述吸嘴X轴驱动器的滑板上,所述吸附装置固定安装在所述吸嘴Y轴滑轨的滑板侧方底部;所述吸附装置挂设有真空检测器;

所述加电装置包括加电高度滑台和探针夹具,所述探针夹具设置有一个或两个,所述探针夹具用于装夹探针,所述加电高度滑台固定安装在所述横梁架靠近所述基板座一侧的支柱上,在所述探针夹具通过探针手动调整平台安装在所述加电高度滑台上;所述加电装置用于接通所述bar条上的激光器芯片的正极,所述基板座用于能连通所述激光器芯片负极令所述激光器芯片发光,所述加电 装置、激光器芯片和基板座的回路中设置有电流源、电流表和电压表;

测试机构包括背光测试探头、第一发散光探头、第二发散光探头和积分球,所述背光测试探头通过两个叠加设置的背光手动位移台固定安装在所述横梁架的靠近所述基板座一侧支柱上,所述背光测试探头的设置在所述基板座的后方;所述第一发散光探头和第二发散光探头分别设置在所述基板座的前方和所述基板座的一侧,所述第一发散光探头和第二发散光探头分别通过第一旋转电机和第二旋转电机驱动旋转;所述积分球通过积分球X轴驱动器和积分球Z轴驱动器固定安装在所述bar条供给座的一侧,所述积分球X轴驱动器和积分球Z轴驱动器分别由积分球X电机和积分球Z电机驱动;所述积分球X轴驱动器固定安装在所述bar条供给座的一侧,所述积分球Z轴驱动器固定安装在所述积分球X轴驱动器的滑板上,所述积分球设置在所述积分球Z轴驱动器的滑板上,所述积分球的测试口朝向所述基板座设置,所述积分球的顶面安装有收光透镜,所述收光透镜后方连接有光纤,所述光纤连通一光谱仪;

激光器bar条测试方法,包括:

步骤一,将bar条上料至供料装置;

步骤二,从所述供料装置吸取一根所述bar条移动放置在测试平台,同时将所述bar条固定在所述测试平台;

步骤三,通过视觉识别利用所述测试平台将所述bar条从上料区域精确运送到测试区域,使所述bar条上需要测试的激光器芯片处于测试区域的中心位置;

步骤四,对所述bar条上需要测试的所述激光器芯片加电,人工判断所述bar条位置是否正确,所述激光器芯片加电是否成功,若不成功则返回步骤三;

步骤五,对所述激光器芯片进行liv测试,liv测试完成后对所述激光器芯片进行光谱测试;

步骤六,判断所述激光器芯片是否为所述bar条上的最后一颗激光器芯片,若不是最后一颗激光器芯片,则返回步骤三;

步骤七,通过所述测试平台将所述bar条从测试区域移动到上料区域,并将所述bar条吸取放回至所述供料装置;

步骤五中liv测试需要测试所述激光器芯片的光功率、电流和电压,光谱测试需要测试所述激光器芯片的光谱,所述激光器芯片通过积分球和光电探头测试光功率,通过电流表和电压表测试电流和电压,通过光谱仪测试光谱;

在步骤四中对所述激光器芯片加电的同时,所述电流表和电压表被接入到了所述激光器芯片的加电回路中。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中南大学,未经中南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010397364.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top