[发明专利]接近检测方法及电子设备

权利要求书

1.一种接近检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取目标超声信号；其中，所述目标超声信号为电子设备的第一模块发出的第一超声信号经障碍物反射后，被所述电子设备的第二模块所接收的超声信号；

对所述目标超声信号进行预设信号处理，提取所述目标超声信号的超声特征信息；

根据所述超声特征信息以及预设的接近检测规则，确定所述电子设备的接近状态。

2.根据权利要求1所述的接近检测方法，其特征在于，所述获取目标超声信号的步骤，包括：

控制所述第一模块发出所述第一超声信号；

获取所述第二模块所接收的第二超声信号；所述第二超声信号为所述第一超声信号经介质传播至所述第二模块的超声信号；

提取所述第二超声信号中的所述目标超声信号；所述目标超声信号为所述第二超声信号中，信号强度变化量大于预设变量阈值的信号分量。

3.根据权利要求1所述的接近检测方法，其特征在于，所述对所述目标超声信号进行预设信号处理，提取所述目标超声信号的超声特征信息的步骤，包括：

对所述目标超声信号进行互相关运算，得到互相关谱，提取所述互相关谱的超声特征信息；

所述超声特征信息包括：超声能量、动态位置特征、动态差分能量、静态位置特征以及静态差分能量中的至少一种。

4.根据权利要求3所述的接近检测方法，其特征在于，所述对所述目标超声信号进行互相关运算，得到互相关谱，提取所述互相关谱的超声特征信息的步骤，包括：

对所述目标超声信号进行带通滤波，得到滤波信号，并计算每帧所述滤波信号的能量值，所述能量值为所述超声能量；

对所述滤波信号依次进行信号对齐运算以及互相关运算，得到初始互相关谱；

对所述初始互相关谱依次进行杂峰消除、去除直达波，得到互相关谱；

提取所述互相关谱的超声特征信息。

5.根据权利要求3所述的接近检测方法，其特征在于，所述接近状态包括第一接近状态和第二接近状态；

所述根据所述超声特征信息以及预设的接近检测规则，确定所述电子设备的接近状态的步骤，包括以下至少一项：

在所述动态差分能量与预设距离特征相匹配的情况下，确定所述电子设备的接近状态为所述第一接近状态；

在所述静态位置特征满足第一阈值，且所述静态差分能量满足第二阈值的情况下，确定所述电子设备的接近状态为所述第一接近状态；

在所述超声能量满足第一预设规则，且所述电子设备满足第一姿态规则的情况下，确定所述电子设备的接近状态为所述第一接近状态；

在所述动态差分能量与预设距离特征相匹配，所述电子设备满足第二姿态规则，所述动态位置特征满足第三阈值且所述动态差分能量满足第四阈值的情况下，确定所述电子设备的接近状态为所述第二接近状态；

在所述动态差分能量与预设距离特征相匹配，所述动态位置特征满足第五阈值且所述动态差分能量满足第六阈值的情况下，确定所述电子设备的接近状态为所述第二接近状态；

在所述静态位置特征满足第七阈值，且所述静态差分能量满足第八阈值，且所述电子设备满足第三姿态规则的情况下，确定所述电子设备的接近状态为所述第二接近状态；

在所述超声能量满足第二预设规则，所述动态位置特征满足第九阈值，且所述电子设备满足第四姿态规则的情况下，确定所述电子设备的接近状态为所述第二接近状态。