[发明专利]一种新型光谱分析装置及系统在审
| 申请号： | 202010358050.2 | 申请日： | 2020-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN113566963A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 苑高强;刘民玉 | 申请（专利权）人： | 高利通科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/12;G01J3/42;G01N21/27;G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人： | 张媛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 新型 光谱分析 装置 系统 | ||
1.一种新型光谱分析装置，包括外壳，其特征在于，所述外壳内设置有狭缝、准直镜、光栅、聚焦镜、空间滤波器以及分离式光电探测器；
所述狭缝，用于将被测光导入所述外壳内并投射到所述准直镜；
所述准直镜，用于将通过所述狭缝后投射的被测光准直反射到所述光栅；
所述光栅，用于将所述准直镜反射的被测光衍射到所述聚焦镜；
所述聚焦镜，用于将所述光栅衍射后的被测光聚焦到所述分离式光电探测器；
所述空间滤波器，用于将所述聚焦镜聚焦到所述分离式光电探测器的被测光先进行空间滤波，以便使所需测量的光谱投射到所述分离式光电探测器；
所述分离式光电探测器，用于接收透过所述空间滤波器的所需测量的光谱。
2.根据权利要求1所述的新型光谱分析装置，其特征在于，所述新型光谱分析装置采用交叉型切尼-特纳光路。
3.根据权利要求1所述的新型光谱分析装置，其特征在于，所述新型光谱分析装置采用M型光路。
4.根据权利要求1所述的新型光谱分析装置，其特征在于，所述新型光谱分析装置还包括PCB电路板，所述PCB电路板上集成有所述新型光谱分析装置的控制电路和供电电路。
5.根据权利要求4所述的新型光谱分析装置，其特征在于，所述PCB电路板设置在所述外壳的侧壁内侧。
6.根据权利要求1所述的新型光谱分析装置，其特征在于，所述新型光谱分析装置还包括光纤接头，所述光纤接头设置于所述外壳外部，用于与所述狭缝配合组装为一体以将被测光导入所述外壳内并投射到所述准直镜。
7.根据权利要求1所述的光谱分析装置，其特征在于，所述新型光谱分析装置还包括消像差元件，所述消像差元件设置于所述狭缝和所述准直镜之间，用于补偿像差。
8.根据权利要求6所述的光谱分析装置，其特征在于，所述光纤接头为SMA905。
9.一种新型光谱分析系统，其特征在于，包如光源、第一光路组件、样品池、第二光路组件以及权利要求1至8任一项所述的光谱分析装置；其中，所述第一光路组件用于将所述光源产生的所述被测光聚焦耦合进入所述样品池，所述第二光路组件用于将所述样品池射出的被测光耦合进入所述狭缝，所述样品池用于放置液体样本。
10.根据权利要求9所述的光谱分析系统，其特征在于，所述光源采用紫外或可见光源。
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