[发明专利]一种信号处理方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种信号处理方法、装置、设备和存储介质，所述方法应用于光模块，光模块包括金手指和寄存器；寄存器包括一个告警寄存器和对应的屏蔽寄存器；金手指包括状态脚；所述方法包括：根据读取寄存器的操作获得第一标志变量的状态；第一标志变量的状态表征是否记录读取告警寄存器的操作；获得第二标志变量的状态；第二标志变量的状态表征状态脚待置为高电平的操作是否被设置；判断第一标志变量的状态和第二标志变量的状态是否满足预设条件；在第一标志变量的状态和第二标志变量的状态满足预设条件的情况下，获得第一告警寄存器的状态和对应的第一屏蔽寄存器的状态；根据第一告警寄存器的状态和第一屏蔽寄存器的状态确定状态脚的状态。

技术领域

本发明涉及光模块技术领域，尤其涉及一种信号处理方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

目前多种光模块金手指上都包含状态脚(INTL脚)，如(Quad Small Form-factorPluggable，QSFP)光模块，(Small Form Factor Pluggable，XFP)光模块等，INTL脚是光模块所有异常状态集合的反应，若INTL脚为低电平表示光模块有异常未被屏蔽的告警标志置位，如温度告警，发射光功率告警，电压告警等，导致INTL脚变低的原因能够通过查询光模块对应的告警状态寄存器获得，清除(具有INTL脚的光模块告警状态为锁存状态，告警状态读后清除)或者通过屏蔽寄存器屏蔽，若对应的告警状态被读后清除且模块无其他告警状态或者对应的告警状态被屏蔽寄存器屏蔽，则INTL脚被释放为高电平，另外INTL脚具有对应的软件状态位，在INTL硬件脚置高或者置低时，对应的软件状态位也要做相应的更新。

光模块相关协议定义从光模块异常状态产生到INTL脚置低电平，最长时间为100ms，从光模块相关异常告警寄存器被读取，告警标志清除到INTL脚释放为高电平最长时间为500us，从产生告警的对应的告警标志屏蔽寄存器置1到INTL脚被阻止置低电平，最长时间为100ms，从产生告警的对应告警标志屏蔽寄存器置0到INTL脚能被正常置低电平，最长时间为100ms。

光模块的软件执行除中断处理函数外的其他操作，通常为轮询方式串行执行，例如光模块的数字诊断监控更新，如电压监控，温度监控等，只能是先监控电压，然后监控温度或者先监控温度，然后监控电压，两者是不能同时监控的，光模块协议定义的时间100ms，100ms用轮询的方式可以实现，但是INTL脚释放时间500us，用轮询的方式实现比较困难，若要用轮询的方式实现，则只能通过拆分功能，例如完整的发射光功率上报，一般需要经过ADC采样，校准，相关告警标志更新三步，正常处理方式是三步操作中不插入任何其他操作，顺序执行，但是若要用轮询处理方式保证INTL释放时间500us，可能需要将其拆分为三步处理，插入INTL更新操作，缩短单次轮询时间，保证500us之内将INTL脚状态更新，或者采用定时器中断的方式，每500us进入定时器中断更新INTL脚状态，保证能满足协议相关时间定义，此两种方法均会增加软件复杂度，降低软件可靠性。针对该问题，目前尚无有效解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例期望提供一种信号处理方法、装置、设备和存储介质。

本发明实施例的技术实施例是这样实现的：

本发明实施例提供一种信号处理方法，所述方法应用于光模块中，所述光模块至少包括金手指和寄存器；所述寄存器包括至少一个告警寄存器和对应的屏蔽寄存器；所述金手指至少包括状态脚；所述方法包括：

根据读取寄存器的操作获得第一标志变量的状态；所述第一标志变量的状态表征是否记录读取所述告警寄存器的操作；

获得第二标志变量的状态；所述第二标志变量的状态表征所述状态脚待置为高电平的操作是否被设置；

判断所述第一标志变量的状态和所述第二标志变量的状态是否满足预设条件；