[发明专利]一种集成电路的内存诊断方法、诊断设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种集成电路的内存诊断方法、诊断设备及存储介质，通过写入、读出特定的数据值来校验判断数据线有无故障，通过往特定地址的存储单元写入、读出数据来校验判断地址线有无故障，通过逐一写入、读取比较存储单元的数据来校验判断存储单元有无故障，然后分别分析显示导致不良故障的具体原因及相关的信号线，对集成电路上的内存芯片进行全面的诊断，并进行故障显示。

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种集成电路的内存诊断方法、诊断设备及存储介质。

背景技术

集成电路中的内存芯片及其附属电路称为内存子系统，它是集成电路重要的组成部分。通常集成电路还安装有中央处理器(CPU)，内存子系统用来存储CPU执行程序指令需要的数据。所以具体来说内存子系统给CPU提供了对数据存储单元读出、写入数据的功能。

内存芯片的信号线主要有两类，一种是数据线，用来输入或输出数据值；一种是地址线，用来指定内存芯片里数据的存储单元的地址编号。例如常用的内存子系统的地址线和数据线分别有32根，每根地址线和每根数据线都能独立输出0或1，32根地址线同时输出信号而组成的32位二进制数表示内存芯片的一个存储单元的地址；32根数据线同时输出的信号而组成的32位二进制数表示一个数据值。

因为集成电路上的内存芯片和信号线高度密集，所以在生产制造过程中内存子系统容易出现次品，常见的不良问题主要有数据线短路问题或断开问题、地址线短路问题或断开问题、内存芯片里的存储单元错误，而现有技术无法快速、准确检测出次品以及定位次品具体的不良问题原因和对应的信号线。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种集成电路的内存诊断方法、诊断设备及存储介质，旨在解决现有技术无法快速、准确检测出次品以及定位次品具体的不良问题原因和对应的信号线的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种集成电路的内存诊断方法，所述集成电路的内存诊断方法包括如下步骤：

选择内存子系统中任意一个存储单元，写入第一数据到所选择的存储单元并读出第一特定数据值，写入第二数据到所选择的存储单元并读出第二特定数据值，校验所述第一特定数据值和所述第二特定数据值判断数据线是否出现断开故障；

当确定数据线不存在断开故障时，选择内存子系统中任意一个存储单元，写入第三数据到所选择的存储单元并读出第三特定数据值，写入第四数据到所选择的存储单元并读出第四特定数据值，根据所述第三特定数据值和所述第四特定数据值判断数据线是否出现短路故障；

当确定数据线正常时，选择内存子系统中第一特定地址的第一存储单元写入第五特定数据值，选择内存子系统中第二特定地址的第二存储单元写入第六特定数据值，读取第一存储单元和第二存储单元中的数值与所述第五特定数据值和所述第六特定数据值比较判断当前地址线是否出现断开故障；

将相邻两根地址线作为一组依次测试，选择内存子系统中第三特定地址的第三存储单元写入第七特定数据值，选择内存子系统中第四特定地址的第四存储单元写入第八特定数据值，读取第三存储单元和第四存储单元中的数值与所述第七特定数据值和所述第八特定数据值比较判断当前地址线是否出现短路故障；

当确定数据线和地址线均正常时，依次往内存子系统中所有存储单元里写入第九特定数据值，依次读取所有存储单元的数值与所述第九特定数据值比较判断存储单元是否出现故障；依次往内存子系统中所有存储单元里写入第十特定数据值，依次读取所有存储单元的数值与所述第十特定数据值比较判断存储单元是否出现故障。

可选地，所述的集成电路的内存诊断方法，其中，所述校验所述第一特定数据值和所述第二特定数据值判断数据线是否出现断开故障，具体包括：

依次对应比较所述第一特定数据值和所述第二特定数据值每一位数的数值；