[发明专利]一种集成电路的内存诊断方法、诊断设备及存储介质

权利要求书

1.一种集成电路的内存诊断方法，其特征在于，所述集成电路的内存诊断方法包括：

选择内存子系统中任意一个存储单元，写入第一数据到所选择的存储单元并读出第一特定数据值，写入第二数据到所选择的存储单元并读出第二特定数据值，校验所述第一特定数据值和所述第二特定数据值判断数据线是否出现断开故障；

当确定数据线不存在断开故障时，选择内存子系统中任意一个存储单元，写入第三数据到所选择的存储单元并读出第三特定数据值，写入第四数据到所选择的存储单元并读出第四特定数据值，根据所述第三特定数据值和所述第四特定数据值判断数据线是否出现短路故障；

当确定数据线正常时，选择内存子系统中第一特定地址的第一存储单元写入第五特定数据值，选择内存子系统中第二特定地址的第二存储单元写入第六特定数据值，读取第一存储单元和第二存储单元中的数值与所述第五特定数据值和所述第六特定数据值比较判断当前地址线是否出现断开故障；

将相邻两根地址线作为一组依次测试，选择内存子系统中第三特定地址的第三存储单元写入第七特定数据值，选择内存子系统中第四特定地址的第四存储单元写入第八特定数据值，读取第三存储单元和第四存储单元中的数值与所述第七特定数据值和所述第八特定数据值比较判断当前地址线是否出现短路故障；

当确定数据线和地址线均正常时，依次往内存子系统中所有存储单元里写入第九特定数据值，依次读取所有存储单元的数值与所述第九特定数据值比较判断存储单元是否出现故障；依次往内存子系统中所有存储单元里写入第十特定数据值，依次读取所有存储单元的数值与所述第十特定数据值比较判断存储单元是否出现故障。

2.根据权利要求1所述的集成电路的内存诊断方法，其特征在于，所述校验所述第一特定数据值和所述第二特定数据值判断数据线是否出现断开故障，具体包括：

依次对应比较所述第一特定数据值和所述第二特定数据值每一位数的数值；

如果数值相同，表示对应的数据线出现断开故障；

如果数值不相同，表示对应的数据线未出现断开故障。

3.根据权利要求1所述的集成电路的内存诊断方法，其特征在于，所述第三数据中奇数位的数值为0，偶数位的数值为1；

所述第四数据中奇数位的数值为1，偶数位的数值为0。

4.根据权利要求3所述的集成电路的内存诊断方法，其特征在于，所述根据所述第三特定数据值和所述第四特定数据值判断数据线是否出现短路故障，具体包括：

如果所述第三特定数据值中的某个偶数位n的数值为0，表示偶数位n对应的第n根数据线与它左右相邻的一根数据线短路；

判断偶数位n对应的第n根数据线是与左边的第n-1根数据线短路还是与右边的第n+1根数据线短路；

如果所述第四特定数据值中的某个奇数位m的数值为0，表示奇数位m对应的第m根数据线与它左右相邻的一根数据线短路；

如果第m根数据线为第n-1根数据线或者第n+1根数据线，则判断出第n根数据线与第m根数据线短路；

其中，m＝n-1或m＝n+1；n和m均为正整数。

5.根据权利要求1所述的集成电路的内存诊断方法，其特征在于，所述第五特定数据值和所述第六特定数据值不相等；

所述读取第一存储单元和第二存储单元中的数值与所述第五特定数据值和所述第六特定数据值比较判断当前地址线是否出现断开故障，具体包括：

如果从第一存储单元和第二存储单元中读取的数值同时等于所述第五特定数据值或同时等于所述第六特定数据值，则第一存储单元和第二存储单元为同一个存储单元，则当前地址线出现断开故障，并以同样的方式测试完所有地址线。

6.根据权利要求1所述的集成电路的内存诊断方法，其特征在于，所述第七特定数据值和所述第八特定数据值不相等；

所述读取第三存储单元和第四存储单元中的数值与所述第七特定数据值和所述第八特定数据值比较判断当前地址线是否出现短路故障，具体包括：

如果从第三存储单元和第四存储单元中读取的数值同时等于所述第七特定数据值或同时等于所述第八特定数据值，则第三存储单元和第四存储单元为同一个存储单元，则表示当前组中的两根地址线出现短路故障，并以同样的方式测试完所有组中的地址线。