[发明专利]一种失败比特数统计方法及存储器设备

权利要求书

1.一种失败比特数统计方法，其特征在于，所述方法包括：

将第i编程脉冲施加到存储器单元；

在施加所述第i编程脉冲的过程中，执行以下操作：

从第一锁存器读取第i-1统计数据，所述第i-1统计数据为用于统计第i-1编程操作的失败比特数所需的数据；

根据所述第i-1统计数据，执行所述第i-1编程操作的失败比特数统计操作；

从第二锁存器读取第i编程数据，所述第i编程数据为对所述存储器单元执行第i编程操作所需的数据；

根据所述第i编程数据，执行所述第i编程操作；

所述将第i编程脉冲施加到存储器单元之前，所述方法还包括：

执行第i-1编程操作的验证操作，获得所述第i-1验证结果；其中，所述第i-1验证结果包括第i-1统计数据和第i编程数据，其中第i-1统计数据为用于统计第i-1编程操作的失败比特数所需的数据，所述第i编程数据为用于对存储器单元执行第i编程操作所需的数据；

将所述第i编程数据存储至所述第二锁存器中；

其中，i为大于1的整数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法应用于存储器中存储器单元的页面编程过程；

所述第一锁存器为所述存储器的页面缓冲器中的低电压阈值锁存器；

所述第二锁存器为所述页面缓冲器中的感测锁存器。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述将第i编程脉冲施加到存储器单元之前，将所述第i-1统计数据存储至所述第一锁存器中；或者，

在施加所述第i编程脉冲的过程中，在所述从第一锁存器读取第i-1统计数据之前，将所述第i-1统计数据存储至所述第一锁存器中。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述将第i编程脉冲施加到存储器单元执行完成之后，执行第i编程操作的验证操作，获得所述第i验证结果；其中，所述第i验证结果包括第i统计数据和第i+1编程数据；

将所述第i统计数据存储至所述第一锁存器中；

将所述第i+1编程数据存储至所述第二锁存器中。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述将第i编程脉冲施加到存储器单元执行完成之后，执行第i编程操作的验证操作，获得所述第i验证结果；其中，所述第i验证结果包括第i统计数据和第i+1编程数据；

将所述第i+1编程数据存储至所述第二锁存器中；

对应地，在施加所述第i+1编程脉冲的过程中，在从所述第一锁存器读取第i统计数据之前，还包括：

将所述第i统计数据存储至所述第一锁存器中。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述第i验证结果还包括第i编程结果，所述第i编程结果用于表征对所述存储器单元执行的第i编程操作是否通过；

对应地，所述方法还包括：

当所述第i编程结果为不通过时，将第i编程脉冲增加特定的步进电压得到第i+1编程脉冲；

将所述第i+1编程脉冲施加到所述存储器单元。