[发明专利]一种液晶模组孔内壁漏光检测方法及设备在审

专利信息
申请号: 202010180010.3 申请日: 2020-03-16
公开(公告)号: CN111367101A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 吴江;许伟丽;周波 申请(专利权)人: 惠州高视科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01M11/02
代理公司: 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349 代理人: 陈文福
地址: 516000 广东省惠州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 液晶 模组 内壁 漏光 检测 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种液晶模组孔内壁漏光检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)将被测液晶模组平放,让被测液晶模组的圆孔朝向检测方向;

(2)在被测液晶模组的圆孔的检测方向上,依次设置反射镜和CCD相机;当圆孔侧壁存在漏光缺陷时,漏光缺陷部位的光线经过反射镜的反射后,进入到CCD相机的光学镜头中;

(3)CCD相机拍摄照片,并通过计算机的图像处理模块进行图像处理,判断照片中是否存在由漏光缺陷部位产生的图像特征,进而判断被测液晶模组孔内壁是否存在漏光。

2.一种用于实现权利要求1所述的液晶模组孔内壁漏光检测方法的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,包括CCD相机,其特征在于,还包括反射镜,所述反射镜设置于被测液晶模组的圆孔的上方,所述CCD相机设置在反射镜的上方;当圆孔侧壁存在漏光缺陷时,漏光缺陷部位的光线经过反射镜的反射后,进入到CCD相机镜头中。

3.根据权利要求2所述的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,其特征在于,所述反射镜包括环形镜面,所述环形镜面的径向尺寸从下到上逐渐增大,形成倾斜式的环形镜面;所述环形镜面同轴设置在被测液晶模组的圆孔的正上方。

4.根据权利要求3所述的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,其特征在于,所述环形镜面为平面或曲面。

5.根据权利要求4所述的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,其特征在于,所述环形镜面为倒锥台状。

6.根据权利要求5所述的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,其特征在于,所述倒锥台状环形镜面的横向截面为多边形或圆形。

7.根据权利要求3所述的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,其特征在于,所述CCD相机的光学镜头与环形镜面同轴设置。

8.根据权利要求3-6任一项所述的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,其特征在于,所述反射镜还包括转接件,所述环形镜面与转接件相连接。

9.根据权利要求8所述的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,其特征在于,所述转接件为环形,连接在环形镜面的上部;所述转接件上设有多个连接孔。

10.根据权利要求3所述的液晶模组孔内壁漏光的检测设备,其特征在于,所述反射镜的环形镜面为镀膜镜面。

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