[发明专利]基于手持式的扩散光学探头及输出电压校正的方法

权利要求书

1.一种基于手持式的扩散光学探头，其特征在于，包括沿对称轴对称设置的若干行光源模块和若干行探测模块，相邻两行所述光源模块之间设置有一行所述探测模块，所述光源模块和所述探测模块位于同一电路板上，每行所述光源模块包括若干发光光源，每行所述探测模块包括若干探测器，所述发光光源的总数量和所述探测器的总数量相等，其中，

位于对称轴一侧的相邻的所述光源模块的发光光源的数量和所述探测模块的探测器的数量从第一行所述光源模块至对称位置的方向按照预设数量依次递增。

2.根据权利要求1所述的基于手持式的扩散光学探头，其特征在于，所述发光光源包括多波长发光二极管，且所述多波长发光二极管包括N个不同波长的发光二极管，所述探测器包括硅光电倍增管。

3.根据权利要求2所述的基于手持式的扩散光学探头，其特征在于，还包括若干模拟开关，所有所述多波长发光二极管中的同一波长的发光二极管连接至同一模拟开关的输出端。

4.根据权利要求3所述的基于手持式的扩散光学探头，其特征在于，还包括低频调制模块和电流源，所述低频调制模块连接所述电流源，所述电流源分别连接所述若干模拟开关。

5.根据权利要求2所述的基于手持式的扩散光学探头，其特征在于，还包括采集模块和若干放大器，每个所述硅光电倍增管对应连接一所述放大器的输入端，所有所述放大器的输出端均连接至所述采集模块。

6.根据权利要求5所述的基于手持式的扩散光学探头，其特征在于，所述采集模块包括单片机。

7.根据权利要求2所述的基于手持式的扩散光学探头，其特征在于，在每个所述硅光电倍增管上设置有一透镜，所述硅光电倍增管和所述透镜的总高度等于所述多波长发光二极管的高度。

8.根据权利要求7所述的基于手持式的扩散光学探头，其特征在于，每个所述透镜和每个所述硅光电倍增管上均贴合设置有一相容性材料。

9.一种输出电压校正的方法，其特征在于，包括：

获取校正曲线；

根据所述校正曲线的第一设定部分得到实际拟合函数；

根据所述校正曲线的第二设定部分得到理论拟合函数；

根据权利要求1至8任一项所述的扩散光学探头得到实际输出电压；

根据所述实际输出电压和所述实际拟合函数得到电流值；

根据所述电流值和所述理论拟合函数得到理论输出电压。

10.根据权利要求9所述的输出电压校正的方法，其特征在于，获取校正曲线，包括：

在设定光强下得到第一探测器的平均基准电压；

在所述设定光强下得到若干第二探测器的平均电压；

根据所述第一探测器的平均基准电压和所述若干第二探测器的平均电压得到若干校正系数；

根据所述第一探测器的输出电压和所述第二探测器的输出电压得到校正曲线。