[发明专利]一种用于CMOS图像传感器的列级ADC及其实现方法有效

专利信息
申请号: 202010172479.2 申请日: 2020-03-12
公开(公告)号: CN111355907B 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 李婷;何杰;时光;吴龙胜 申请(专利权)人: 西安微电子技术研究所
主分类号: H04N5/374 分类号: H04N5/374;H04N5/3745
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 李红霖
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 cmos 图像传感器 adc 及其 实现 方法
【权利要求书】:

1.一种用于CMOS图像传感器的列级ADC,其特征在于,包括比较器第一级(12)、比较器第二级(16)和补偿电容(15);

所述比较器第一级(12)的正端输入为光电信号Vin,其负端输入为斜坡参考信号Vramp,所述比较器第一级(12)的输出端与比较器第二级(16)的输入端相连,所述比较器第二级(16)的输出端通过补偿电容(15)与比较器第一级(12)的负端相连接,所述比较器第二级(16)的输出端还提供有外部输出VCOMP;

所述比较器第一级(12)和比较器第二级(16)的翻转方向相反;

还包括负载均衡器(17),负载均衡器(17)的一个输入端与比较器第二级(16)输出端相连接,另一个输入端为ADC-Lowpower;

当负载均衡器(17)的ADC-Lowpower输入为低电平时,比较器第二级(16)其所在支路的电流和负载均衡器(17)所在支路的电流一个为0,一个不为0;

当负载均衡器(17)的ADC-Lowpower输入为高电平时,负载均衡器(17)所在支路的电流均为0。

2.根据权利要求1所述的用于CMOS图像传感器的列级ADC,其特征在于,所述比较器第一级(12)包括NMOS M1、NMOS M2、PMOS M3、PMOS M4和第二NMOS,比较器第二级(16)包括PMOS M5和第三NMOS;

PMOS M3、PMOS M4 和PMOS M5的S极均接入VDD,PMOS M3的G极、PMOS M3的D极、PMOS M4的G极均与NMOS M1的D极相连,NMOS M1的G极接光电信号Vin,PMOS M4的D极、NMOS M2的D极与PMOS M5的G极相连,NMOS M2的S极与PMOS M1的S极相连后接入第二NMOS的D极,第二NMOS的G极接有偏置电流,第二NMOS的S极接地,PMOS M2的G极接斜坡参考信号Vramp;

PMOS M5的D极同时接第三NMOS的D极、补偿电容(15)并提供外部输出VCOMP,补偿电容(15)的另一端与NPMOS M2的G极相连,第三NMOS的G极接有偏置电流,第三NMOS的S极接地。

3.根据权利要求2所述的用于CMOS图像传感器的列级ADC,其特征在于,负载均衡器(17)包括PMOS M6、第一PMOS、PMOS M7和第四NMOS;

PMOS M6的S极接入VDD,NMOS M6的G极接ADC-Lowpower,PMOS M6的D极与第一PMOS的S极相连接,第一PMOS的D极与G极相连后与PMOS M7的S极相连接,PMOS M7的G极与NMOS M5的D极相连,NMOS M7的D极与第四NMOS的D极相连,第四NMOS的G极接有偏置电流,第四NMOS的S极接地。

4.一种用于CMOS图像传感器的列级ADC的实现方法,其特征在于,利用权利要求1-3任一项所述的列级ADC提高其转换线性度,具体操作为:

1)输入的斜坡参考信号Vramp接近光电信号Vin时,比较器第一级(12)和比较器第二级(16)均进行翻转;

2)由于比较器第一级(12)中的MOS管的栅漏寄生电容存储的电荷不能突变,比较器第一级(12)翻转引起斜坡参考信号Vramp畸变,参考信号Vramp畸变的畸变方向与比较器第一级(12)的翻转方向相同;

同时补偿电容(15)中的存储的电荷不能突变,比较器第二级(16)翻转也引起斜坡参考信号Vramp畸变,参考信号Vramp畸变的方向与比较器第二级(16)的翻转方向相同;

上述两个的畸变方向相反,从而减小斜坡参考信号Vramp畸变,提升转换精度。

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