[发明专利]一种老化测试方法、装置、终端和计算机可读存储介质

说明书

本申请适用于测试技术领域，提供了一种老化测试方法和鉴别系统，其中，所述老化测试方法包括：检测终端是否满足老化测试模式进入条件；若所述终端满足所述老化测试模式进入条件，则以老化测试模式进入终端系统；监测所述终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常，得到所述终端的老化测试结果，并在满足老化测试模式退出条件时，结束所述终端的老化测试，解决了传统的老化测试方法不能监测终端在极端状况下的运行状态的问题，避免了在极端状况下运行异常的终端设备流入市场。

技术领域

本申请属于测试技术领域，尤其涉及一种老化测试方法、装置、终端和计算机可读存储介质。

背景技术

终端的老化测试是诊断终端是否存在系统或硬件问题的有效方法。传统的终端老化测试是在检测到终端以老化测试模式进入终端系统时，屏蔽除退出老化测试模式指令外的所有外界指令，并以常规用户状态进行老化测试，若在规定的时间内不出现运行异常则完成老化测试。

然而，这种传统的老化测试方法不能监测终端在极端状况下的运行状态，导致部分在极端状况下运行异常的终端设备流入市场。

发明内容

本申请实施例提供一种老化测试方法、装置、终端和计算机可读存储介质，可以监测终端在极端状况下的运行状态，避免在极端状况下运行异常的终端设备流入市场。

本申请实施例第一方面提供一种老化测试方法，包括：

检测终端是否满足老化测试模式进入条件；

若所述终端满足所述老化测试模式进入条件，则以老化测试模式进入终端系统；

监测所述终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常，得到所述终端的老化测试结果，并在所述终端满足老化测试模式退出条件时，结束所述终端的老化测试。

本申请实施例第二方面提供的一种老化测试装置，包括：

检测单元，用于检测终端是否满足老化测试模式进入条件；

进入单元，用于若所述终端满足所述老化测试模式进入条件，则以老化测试模式进入终端系统；

老化测试单元，用于监测所述终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常，得到所述终端的老化测试结果，并在所述终端满足老化测试模式退出条件时，结束所述终端的老化测试。

本申请实施例第三方面提供一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。

本申请实施例第四方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行时实现方法的步骤。

本申请实施例中，通过在终端满足老化测试模式进入条件时，以老化测试模式进入终端系统，并监测所述终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常，使得得到的终端的老化测试结果中包含终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常的结果，然后，在满足老化测试模式退出条件时，结束所述终端的老化测试，因此，工作人员可以对老化测试结果中在满负荷运行状态下存在运行异常的终端设备进行回收处理，解决了传统的老化测试方法不能监测终端在极端状况下的运行状态的问题，避免了在极端状况下运行异常的终端设备流入市场。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。