[发明专利]一种老化测试方法、装置、终端和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种终端的老化测试方法，其特征在于，包括：

检测终端是否满足老化测试模式进入条件；

若所述终端满足所述老化测试模式进入条件，则以老化测试模式进入终端系统；

监测所述终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常，得到所述终端的老化测试结果，并在所述终端满足老化测试模式退出条件时，结束所述终端的老化测试。

2.如权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述检测终端是否满足老化测试模式进入条件，包括：

检测所述终端是否接收到上位机发送的老化测试指令；若检测到所述终端接收到所述上位机发送的老化测试指令，则确定所述终端满足所述老化测试模式进入条件；

或者，

扫描所述终端是否接收到老化测试模式进入文件，若所述终端接收到所述老化测试模式进入文件，则确定所述终端满足所述老化测试模式进入条件。

3.如权利要求2所述的老化测试方法，其特征在于，在所述确定所述终端满足所述老化测试模式进入条件之后，包括：对环境变量进行修改；

所述以老化测试模式进入终端系统，包括：

检测所述环境变量是否发生修改；

若所述环境变量发生修改，则以老化测试模式进入终端系统。

4.如权利要求2所述的老化测试方法，其特征在于，在得到所述终端的老化测试结果之后，还包括：

将所述老化测试结果发送给上位机。

5.如权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述检测终端是否满足老化测试模式进入条件之后，包括：

若终端不满足老化测试模式进入条件，则以用户模式进入终端系统。

6.如权利要求1-5任意一项所述的老化测试方法，其特征在于，所述监测所述终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常，包括：

显示所述终端在满负荷运行状态下的运行状态信息；所述运行状态信息包括终端CPU运行状态信息、终端GPU运行状态信息、软件运行状态信息中的一种或多种信息。

7.如权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述在所述终端满足老化测试模式退出条件时，结束所述终端的老化测试，包括：

监听所述监测所述终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常的累积时长是否大于预设时长，并在所述累积时长大于预设时长时，结束所述终端的老化测试。

8.一种老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置包括：

检测单元，用于检测终端是否满足老化测试模式进入条件；

进入单元，用于若所述终端满足所述老化测试模式进入条件，则以老化测试模式进入终端系统；

老化测试单元，用于监测所述终端在满负荷运行状态下是否存在运行异常，得到所述终端的老化测试结果，并在所述终端满足老化测试模式退出条件时，结束所述终端的老化测试。

9.一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。