[发明专利]一种射频测试方法及其系统和装置

说明书

本发明涉及通信设备的测试领域，尤其涉及一种射频测试方法及其系统和装置。一种射频测试方法，包括以下步骤：金板校准线损时，从云端拉取相应金板对应的参数进行线损校准，产生线损文件上传到云端，作为该环境的线损的记录；射频测试正式开始后，从云端拉取线损文件和极限值文件，并以此进行射频测试。本发明提供的方法对射频测试时间优化，将原来工厂单个BK7231S模块的测试时间从原来的大于25秒减少到12秒，减少了仪器占用时间的一半以上；测试过程中的文件都不支持本地修改，保证了射频测试的严谨性及数据的安全性；帮助工厂产线减少时间成本和人工成本，保证了批量模块射频测试的性能；从而使工厂产线的流程更加规范、合理、有效。

技术领域

本发明涉及通信设备的测试领域，尤其涉及一种射频测试方法及其系统和装置。

背景技术

目前工厂产线的射频测试一般都采用仪器进行，主流射频仪器商如litepoint、极致汇仪提供的测试方案，单个BK7231S模块的射频测试时间都是大于25秒。同时，在进行射频测试之前，都需要进行线损校准的环节，即测试环境、仪器等导致的功率损耗。正式测试需要把这个损耗补贴到线路回路中。区别于研发实验环境，工厂的一台测试仪器连接对应数量的夹具使用仪器商提供的控制软件独立进行测试。测试log详细反映测试结果。然而其中的测试项、测试指标等都是由仪器商提供的控制软件中的配置文件来决定的。配置文件的差异将直接影响射频的测试结果。线损校准和射频测试通常都不在同一个软件中。产线一般安排技术工人修改多个需要射频测试相关软件的配置文件。调试好环境，等待设备进行测试。

目前的测试模式可以满足工厂批量测试的需求，但是对于测试结果的详细统计，及独立模块拥有少量信息的时候并不能得知该模块是否已经经过射频测试。同时，对于人工修改测试仪器的配置文件，达不到高的可靠性，仪器数量多的情况下，存在漏配的情况。仪器的一些标准参数、线损等定时维护也不能很好的保证。以上诸多因素结合而测试出来的结果不能100％保障射频功能没有缺陷。

发明内容

本发明提供的方法对射频测试时间优化，将原来工厂单个BK7231S模块的测试时间从原来的大于25秒减少到12秒，减少了仪器占用时间的一半以上；测试过程中的文件都不支持本地修改，保证了射频测试的严谨性及数据的安全性；帮助工厂产线减少时间成本和人工成本，保证了批量模块射频测试的性能；从而使工厂产线的流程更加规范、合理、有效。

为实现上述目的，本发明第一方面的技术方案提供了一种射频测试方法，包括以下步骤：

金板校准线损时，从云端拉取相应金板对应的参数进行线损校准，产生线损文件上传到云端，作为该环境的线损的记录；

射频测试正式开始后，从云端拉取线损文件和极限值文件，并以此进行射频测试。

在一些可能的实施方式中，金板校准线损的金板的参数和射频测试所用的极限值均上传云端。

在一些可能的实施方式中，所述金板校准线损的金板的参数包括目标功率值。

在一些可能的实施方式中，金板通过金板编号与云端数据库中相应的金板数据关联。

在一些可能的实施方式中，所述线损为测试仪器与当前射频线之间的线损；

所述线损文件包括线损文件名称、产品型号、仪器编号、金板编号、线损日期以及数据的测试周期。

在一些可能的实施方式中，所述射频测试的结果保存在本地和/或云端。

在一些可能的实施方式中，抓取测试过程中的有效值，得到可视化的数据结果。

本发明第二方面的技术方案提供了一种射频测试系统，包括：

准备单元，用于金板校准线损时，从云端拉取相应金板对应的参数进行线损校准，产生线损文件上传到云端，作为该环境的线损的记录；