[发明专利]一种单光子探测器参数测量系统及方法

说明书

本发明为一种单光子探测器参数测量系统及方法，其中，该系统包括光源模块、数据采集处理模块和显控模块；该系统还包括信号源及延时子模块，所述信号源及延时子模块用于接收数据采集处理模块输出的控制信号，根据控制信号向光源模块输出时序发生信号控制光源模块产生单光子脉冲信号时间，同时向待测单光子探测器输出门控信号，控制待测单光子探测器开门时间，使单光子脉冲信号到达待测单光子探测器时间和待测单光子探测器开门时间一致。该系统弥补了测量系统同步性低所导致测量单光子探测器参数精度不高的问题，提高了测量精度。

技术领域

本发明涉及单光子探测领域，具体涉及一种单光子探测器参数测量系统及方法。

背景技术

随着量子技术在理论和实验上的不断突破，量子通信、量子探测等前沿技术越来越受到人们的关注，具有光子级别灵敏度的单光子探测器作为量子通信和量子探测的重要部件，其使用也越来越广泛。对于单光子探测器，其探测效率、死时间和后脉冲概率等作为重要的参数将对其使用造成较大影响，同时，在出厂时，会对其探测效率、死时间和后脉冲概率等重要参数进行测定和说明；但是，随着使用时间的推移，单光子探测器部分性能参数可能发生漂移，需进行从新测量和标定。

目前，对单光子探测器参数的测量由于系统同步性低的问题，导致测量单光子探测器参数精度不高，同时，由于没有可监测的稳定单光子源，影响单光子探测器参数的测量效果，再者，传统的单光子探测器参数测量一般基于在实验室条件下搭建的一组实验设备，尚无成熟的仪器设备，导致测量不方便，不适应市场需求。

发明内容

本发明提供一种单光子探测器参数测量系统，解决由于测量系统同步性低所导致测量单光子探测器参数精度不高的问题。

本发明通过下述技术方案实现：

本发明提供一种单光子探测器参数测量系统，包括光源模块、数据采集处理模块和显控模块：

光源模块用于产生单光子脉冲信号并输出给待测单光子探测器；

数据采集处理模块接收待测单光子探测器对单光子脉冲信号进行计数所产生的计数信号，并对计数信号进行分析计算，得到待测单光子探测器参数；

显控模块与数据采集处理模块相连接，用于进行人机交互；

该系统还包括信号源及延时子模块；

所述信号源及延时子模块用于接收数据采集处理模块输出的控制信号，根据控制信号向光源模块输出时序发生信号控制光源模块产生单光子脉冲信号时间，同时向待测单光子探测器输出门控信号，控制待测单光子探测器开门时间，使单光子脉冲信号到达待测单光子探测器时间和待测单光子探测器开门时间一致；