[发明专利]基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置和方法

权利要求书

1.一种基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置，其特征在于包括ATE测试机台和扩频时钟测试电路板；ATE测试机台通过总线接口连接被测芯片和扩频时钟测试电路板；被测芯片需要向扩频时钟测试电路板提供两路时钟，其中，一路是频率稳定的参考时钟信号，另一路扩频时钟信号；ATE测试机台将根据被测芯片类型预期的、合格判定所需的工作参数范围传递给扩频时钟测试电路板，扩频时钟测试电路板完成扩频时钟信号工作参数测量，与ATE测试机台提供的工作参数范围做比对，向ATE测试机台返回比对结果。

2.如权利要求1所述的基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置，其特征在于扩频时钟测试电路板包括第一低通滤波器、第二低通滤波器、混频器、第三低通滤波器、比较器和数字检波电路；第一低通滤波器对被测试的扩频时钟信号进行低通滤波，第二低通滤波器对参考时钟信号进行低通滤波器，第一低通滤波器、第二低通滤波器分别滤除被测试的扩频时钟信号和参考时钟的高次谐波，保留基频部分；第一低通滤波器和第二低通滤波器将低通滤波后信号送入混频器混频，第三低通滤波器对混频后的信号进行低通滤波后送入比较器，比较器进行过零检测获得数字基带信号送入数字检波电路，数字检波电路对数字基带信号进行分析获得工作参数，与ATE测试机台提供的工作参数范围进行比对，比对测试结果是否在合格范围内，并向ATE测试机台返回比对结果。

3.如权利要求2所述的基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置，其特征在于数字检波电路包括脉宽重复周期分析模块、扩频时钟调制周期分析模块、频率偏移分析模块和比较模块；脉宽重复周期分析模块对数字基带信号的脉宽进行分析，找到时间宽度最宽或最窄的脉冲信号的重复周期，即调制周期Tmod；扩频时钟调制周期分析模块根据参考时钟信号与被测试的扩频时钟信号的频率关系，得到被测试的扩频时钟的调制周期Tssc，Tssc＝Tmod；扩频时钟调制周期分析模块对数字基带信号进行分析，找到时间宽度最窄的脉冲的脉宽Tmin，得到扩频时钟与参考时钟的频率偏移最大值的近似值1/Tmin。

4.一种基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试方法，采用如权利要求1-3之一所述的测试装置，其特征在于包括：

步骤1，ATE测试机台通过总线接口连接被测芯片和扩频时钟测试电路板，将被测芯片的两路时钟输出端通过信号线连接到扩频时钟测试电路板；

步骤2，ATE测试机台将根据被测芯片类型预期的、合格判定所需的工作参数范围传递给扩频时钟测试电路板；

步骤3，被测芯片需要向扩频时钟测试电路板提供两路时钟，其中，一路是频率稳定的参考时钟信号，另一路扩频时钟信号；

步骤4，扩频时钟测试电路板执行完参数测量流程后，与ATE测试机台提供的工作参数范围做比对，并向ATE测试机台返回测试结果。

5.如权利要求4所述的基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试方法，其特征在于步骤4包括：

步骤4.1，对被测试的扩频时钟信号和参考时钟信号两路信号分别进行低通滤波,滤除高次谐波，保留基频部分；

步骤4.2，将两路低通滤波后的信号送入混频器混频；

步骤4.3，对混频后的信号进行低通滤波；

步骤4.4，对混频及低通滤波后的信号进行过零检测获得数字基带信号；

步骤4.5，分析数字基带信号获得工作参数，与ATE测试机台提供的工作参数范围进行比对，比对测试结果是否在合格范围内，并向ATE测试机台返回比对结果。

6.如权利要求5所述的基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试方法，其特征在于步骤4.5所述分析数字基带信号获得工作参数具体为：一是对过零检测获得的数字基带信号的脉宽进行分析，找到时间宽度最宽或最窄的脉冲信号的重复周期，即调制周期Tmod；二是根据参考时钟信号与被测试的扩频时钟信号的频率关系，得到被测试的扩频时钟的调制周期Tssc，Tssc＝Tmod；三是对过零检测获得的数字基带信号分析，找到时间宽度最窄的脉冲的脉宽Tmin，得到扩频时钟与参考时钟的频率偏移最大值的近似值1/Tmin。